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11.
凝乳酶对干酪品质影响研究进展   总被引:1,自引:0,他引:1  
凝乳酶对干酪的品质具有重要影响。本文介绍了凝乳酶的种类,以及其在干酪生产中的作用和机理,论述了凝乳酶对干酪品质影响研究进展,并对其研究前景进行了展望。  相似文献   
12.
以Na Cl溶液为流动相,采用离心场场流分离仪对样品进行分级,结合静态光散射仪、示差折光检测器测定亲水性弱聚电解质聚丙烯酸的数均分子质量及重均分子质量。通过考察流动相流速、离心场的离心转速等影响离心分离的因素,确定仪器可准确测量的条件。结果表明,当流动相流速为0. 7 m L/min、离心场转速为3 500 r/min时,该装置可准确测定聚丙烯酸的平均分子质量。  相似文献   
13.
国家质量基础(NQI)的共性技术研究与应用专项《石墨烯等碳基纳米材料NQI技术研究、集成与应用》示范项目将计量、标准、合格评定通过研究、集成到全链条的实施,项目研究过程中总结出一些规律和经验,供后期NQI项目和技术更好地实施提供参考,以助于NQI为产业发展和质量强国提供更好的技术支持。  相似文献   
14.
采用CMT电弧增材制造技术制备TA15钛合金堆积体,并对其显微组织和拉伸性能进行研究。结果表明:CMT电弧增材制造TA15钛合金堆积体成形良好,沿高度方向的宏观组织为外延生长的粗大β柱状晶,显微组织主要由网篮组织、片层组织组成。CMT电弧增材制造TA15钛合金堆积体在水平打印方向与增材高度方向的抗拉强度和屈服强度相差小,但增材高度方向的断后伸长率则优于水平打印方向。  相似文献   
15.
<正>多年来,尘埃粒子计数器的校准一直是国际计量研究机构关注的重点。目前,被广泛认可的尘埃粒子计数量值溯源和校准方法为:"尘埃粒子计数器(OPC)——凝结核粒子计数器(Condensation particle counter,CPC)——气溶胶静电计(Faraday cup electrometer,FCE)"的逐级溯源方法。在该溯源链中通过凝结核粒子计数器将尘埃粒子计数器的测量结果溯源至气溶胶静电计,而气溶胶静电计通过测量带电颗粒所形成的电流得到粒子数量,最终使得测量值溯源  相似文献   
16.
高镁中包干式料作为钢铁冶炼过程中必须的一种原材料,其元素含量对于元素追踪起着至关重要的作用。试验对称样量、溶解方法、分析谱线等条件进行讨论,建立了使用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定高镁中包干式料中硼元素的方法。称取0.4000g高镁中包干式料样品,采用先加氢氧化钾溶液进行碱溶,再加盐酸和硝酸消解的方法处理样品,选择B 182.577nm或B 249.678nm为分析线,在体系没有明显干扰的情况下,选择自动匹配法(FITTED)进行谱线校正扣除背景,采用基体匹配法配制标准溶液系列并绘制校准曲线,实现了电感耦合等离子体原子发射光谱法对高镁中包干式料中硼的测定。硼的质量分数为0.0005%~0.020%(B 182.577nm)或0.0006%~0.020%(B 249.678nm)范围内校准曲线呈线性,相关系数均大于0.9995;方法中硼的检出限为0.0001%。方法应用于高镁中包干式料样品中硼的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=6)小于5%;加标回收率为92%~108%。按照实验方法测定1个成分含量与高镁中包干式料相似的镁砂标样(镁质量分数为48.87%)中硼,结果与标准值相吻合。  相似文献   
17.
18.
拉曼光谱可以有效反映物质的结构和官能团信息,但测量结果的可信及可比性依赖于有效的测量程序。本文研究了硫、萘、1,4二甲基乙烯基苯、对乙酰氨基酚、环己烷、苯甲腈几种纯物质有效测量程序的确定过程,包括测量条件和拟合过程的确定,也研究在有效测量程序下这几种纯物质的拉曼频移测量结果。  相似文献   
19.
添加木糖代替面包配方中的蔗糖,采用直接发酵法制作木糖面包。采用粉质仪法、拉伸仪法测定添加木糖前后面团的流变学特性,研究木糖添加量对面团流变学特性和面包品质的影响。结果表明:木糖添加量越高,面团的粉质指数越低,稳定和断裂时间越短,软化度和公差指数越高;添加木糖可使面团的吸水量减少,对形成时间无影响。随木糖添加量的增加,面团的拉伸能量、拉伸阻力和拉伸比降低,而延伸度增加;但是随醒发时间的增加,木糖添加量与拉伸特性各指标间相关系数降低,木糖对面团拉伸特性的影响效果减弱。配方中添加1.5%的蔗糖即可满足面包酵母生长需求。添加木糖对面包的规则度影响较小,但可使面包的体积和比容变小,感官品质变差;木糖添加量3.0%时面包硬度最小,超过3.0%时面包体积、比容和感官得分明显降低。添加木糖可提高面包的水分保持能力和抗氧化能力,对酸度和酸价无影响。  相似文献   
20.
针对X射线波长短、能量高,不易直接将X射线波长溯源至SI国际单位,通过采用不同单色器单色化入射X射线,将入射光源溯源至单晶硅晶格参数.结果显示X射线波长引入的最大不确定度为0.0013nm.  相似文献   
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