时间自动机的LTL性质模型检测研究

为了增强模型检测工具的检测能力,拓宽模型检测技术的应用范围,对基于时间自动机的LTL性质模型检测进行了研究,对自动机的状态空间的存储方式和状态空间的展开过程进行了分析,讨论了LTL性质模型检测工具的检测流程和检测算法的实现策略对工具检测性能的影响,针对制约模型工具的检测能力和检测效率的因素,采取了一些相应的优化改进策略.采用了BDD(二叉决策图)共享存储技术和位编码压缩存储,较有效地减小了空间消耗,缓解了模型检测中状态爆炸引起的内存空间不足问题.与DTSpin等著名的模型检测工具进行了实验比较,取得了较好的实验结果.     

一种新的组密钥管理算法

在对组密钥管理算法进行全面研究的基础上,提出了一种新的用于安全组播的组密钥管理算法。本算法将集中式密钥分配算法与分布式密钥协商算法相结合,吸取了集中式密钥分配算法的可扩展性的优点,同时克服了其单点失效的问题,将密钥分配思想用于密钥协商算法中,产生了一种底层基于密钥链而上层组织为三叉密钥树的密钥分发算法。本算法可以代替密钥协商算法应用于所有成员关系对等且不存在可信第三方的组播组中,并克服了分布式密钥协商算法中的大计算延时问题,适用于成员关系变化频繁的大型组播组,具有较高的可扩展性。     

基于前缀树结构的空间co-location模式挖掘算法研究

首先,分类空间co-location模式挖掘算法,着重对一些典型挖掘算法的思想、特点和不足进行分析.其次,提出co-location挖掘算法的一般模式,应用同一示例,对3种基于前缀树结构的挖掘算法进行分析和比较,总结基于前缀树结构挖掘算法的实质.最后是对基于前缀树结构挖掘算法的实验评价.     

用于成品率分析芯片的LVS方法

研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证。实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性。     

基于稀疏编码直方图的TSM识别场景文本算法

基于部件的树结构模型(TSM)使用的底层特征梯度直方图(HOG)对文字特征表达性不强,且降维时易造成信息丢失。针对该问题,构建以稀疏编码直方图(HSC)为底层特征的基于部件的树结构模型(HSC-TSM)识别场景文本。将K-SVD学习字典用于计算稀疏编码,逐像素地将稀疏编码聚合成HSC,描述文字的局部外观信息;通过奇异值分解对HSC进行降维,避免信息丢失。HSC-TSM在数据集ICDAR 2003上对各类文字的识别率比TSM高3.08%-10.28%,在数据集ICDAR 2003和SVT上的单词识别率分别提升了5.30%和3.62%。     

基于符号零压缩二叉决策图的装配可行性判定方法

为了扩大装配序列规划的求解规模并提高求解效率,提升装配自动化水平,给出了装配体联接矩阵和干涉矩阵的零压缩二叉决策图描述,建立了基于符号零压缩二叉决策图的装配操作可行性判定方法。基于该方法,可以高效地求解出一个装配体的可行装配操作。结合实例验证了基于符号零压缩二叉决策图的装配体模型和可行装配操作判定方法的正确性和可行性。     

GPU加速的多分辨率几何图像快速绘制方法

为实现多分辨率几何图像的高效逼真绘制,将满足饱和性质的层次包围球概念与基于屏幕空间的误差判据思想引入到节点误差测度函数的设计中,提出一种适用于视点相关几何图像的节点误差测度函数.针对传统多分辨率几何图像裂缝消除算法复杂、难以用GPU加速的问题,使用正切函数控制顶点偏移;在GPU上快速消除几何图像四叉树结构的不同分辨率节点绘制时出现的裂缝,实现了节点间网格的快速平滑过渡.实验结果证明,该节点误差测度函数能实现几何图像四叉树节点的精确选择,三维模型特征保持明显;裂缝处理算法易于GPU实现,能获得较高的帧率.     

基于两代树的低密度校验码校验矩阵构造方法

针对传统的低密度校验(LDPC)码稀疏矩阵构造算法不易实现或可能得到的结果不满足条件的缺陷,给出了一种新颖的基于两代树结构的低密度校验矩阵的构造搜索算法。该算法采用人们熟悉的树型数据结构,可以较为合理地表示稀疏校验矩阵中行与列中非零元素的跳转关系。结果表明,结合蚁群算法在路径搜索方面的优势,采用这种基于两代树的搜索算法,具有算法简单、容易实现的优点。更进一步,如果考虑到非规则码的构造中外信息的引入,可以很容易地将该算法应用在非规则码的构造中。     

用VIS系统验证电路的实时特性的探讨

文章在分析形式化验证／综合系统VIS 的基础上,改进了该电子系统中的关键技术——二叉判定图（BDD）,使BDD能表示电路的定时性质,这样就为VIS系统能够进行电路的时间特性验证和实时模型检验打下了基础。     

用VIS验证微处理器PIC

近年来,二叉判定图ＢＤＤ和符号模型检验在形式验证数字电路设计中取得了突破性进展,文中介绍了符号模型检验的基本原理和方法,重点介绍了如何用ＶＩＳ系统验证微处理器ＰＩＣ设计的正确性。利用ＶＩＳ证明了ＰＩＣ设计部分电路的等价性。发现了一个设计错误并证明了ＰＩＣ中一些重要模块的特性。