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991.
Vegetable wastes in the food industry are costly lo handle because of their high moisture content. while mill plant tailings in the mining industry contain large quantities of ultralines which are difficult io dewater.This paper describes the results of small scale electmosmotic dewatering (EOD) and combined field dewatering (CFD) measurements with model vegetable sludges and mine tailings.  相似文献   
992.
试验研究了不锈钢的深溶焊接。研究了聚焦光束回转的光具。在工件不动的情况下,焊接管子—管板连接环缝。焊缝质量满足压力容器的要求,焊接效率大大提高。  相似文献   
993.
研究了稳定ZrO_2和部份稳定ZrO_2对β″-Al_2O_3陶瓷的强化和韧化作用,观察了不同种类、不同含量的ZrO_2对β″-Al_2O_3陶瓷的显微结构、力学性能和电导率的影响,探讨了β″-Al_2O_3的韧化机理。  相似文献   
994.
Undoped and phosphorus (P)-doped diamond-clad Si field emitter arrays have been successfully fabricated using microwave plasma chemical vapor deposition (MPCVD) technology. The electron emission from the blunt diamond-clad microtips are much higher than those for the pure Si tips with sharp curvature due to a lower work function. Furthermore, the characteristics of emission current against applied voltage for the P-doped diamond-clad tips show superior emission at lower field to the undoped ones. After the examination of Auger electron spectroscopy (AES) and electrical characteristics of as-grown diamond, such a significant enhancement of the electron emission from the P-doped diamond-clad tips is attributed to a higher electron conductivity and defect densities  相似文献   
995.
研究了渗碳处理TiAl基合金试样的高温氧化行为,发现渗碳处理可以在TiAl基合金试样表层形成致密的多层结构的渗碳层,并发生表层Al、Ti重新分配。致密的渗碳层具有良好的高温抗氧化性和高温热稳定性,同时,Ti、Al重新分配形成的富Al最外层也能进一步提高合金的抗氧化性。  相似文献   
996.
提出了映射半解析边界元法解百轴对称瞬态弹性动力问题时存在解析方向不能正确反映波的传播现象的问题,产生该问题的原因和如何解决该问题的建议。  相似文献   
997.
用高分辨裂解气相色谱-质谱考察了不同聚吡咙的热分解,分析了其热分解产物的组成、分布和归属,研究了其环化过程以及该过程对热分解的影响,进而详细阐述了聚吡咙的热分解机理。  相似文献   
998.
通过合成的一系列具有不同分子量的聚丙烯酰胺的阳离子化制得具有不同分子参数的阳离子聚丙烯酰胺(CPAM)。经评价实验就分子参数对页岩抑制性的影响进行研究  相似文献   
999.
A simple and elegant proof is given for a recurrence relation that computes the coefficients of the characteristic polynomial of a linear system used in the Souriau-Frame-Faddeev algorithm  相似文献   
1000.
A BiCMOS dynamic carry lookahead circuit that is free from race problems is presented. A 16 b full-adder test circuit, which has been designed based on a 2 μm BiCMOS technology, shows a more than five times improvement in speed as compared to the CMOS Manchester carry lookahead (MCLA) circuit. The speed advantage of the BiCMOS dynamic carry lookahead circuit is even greater in a 32- or 64-b adder  相似文献   
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