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介绍了直线导轨测量平台的测量功能、特点和测量原理、机械系统和电气测控系统;直线导轨测量平台的操作流程、验收标准和验收报告。阐述了大理石测量平台的结构、精度以及测量平台的支撑和直线导轨测量平台电气系统各硬件参数和软件;论述了直线导轨测量平台的总体结构、测量平台电控系统原理图及验收报告;为直线导轨测量平台的设计、制造提供了参考。 相似文献
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本文在GPS不确定度理论的基础上,阐述了PUMA测量不确定度管理程序及其关键环节;在对圆柱度的测量过程研究的基础上,分析了圆度仪测量圆柱度的测量不确定度影响因素及评定模型,利用PuMA管理程序,实现了圆度仪测量圆柱度的测量不确定度的规范评定,证明了PUMA管理程序可用于几何特征量测量或者测量设备计量特征校准的测量程序. 相似文献
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为研究面向不同测量对象且具有普适性的数控机床在机测量系统最佳测量区确定方法,选择球作为测量对象,分析了在机测量系统的工作原理及误差来源,利用BAS-BP神经网络建立了单项几何误差白化模型,同时建立了测量系统综合误差模型和球测量误差模型。研究了用于确定最佳测量区搜索寻优的差分优化布谷鸟(DE-CS)算法,进行了不同算法搜索性能对比,确定了算法最优性能参数。搭建了确定球最佳测量区的实验装置,进行了相应实验,对比了利用算法确定和实际测量得到的最佳测量位置的一致性。实验结果表明,利用上述方法搜索计算确定的面向球最佳测量区位置与实验测量确定的最佳测量区位置一致,最佳测量区为:430.783mm≤X≤439.783mm,-145.133mm≤Y≤-136.133mm和-268mm≤Z≤-258mm,实测最大误差最小值为3.1μm,算法求解的误差也为整个测量空间的最小值0.710 7μm,且可用于面向点、面等其他测量对象的最佳测量区确定,具有普适性,可用于确定在机测量系统的最佳测量区。 相似文献
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卡尺测量过程的测量施力会产生测量误差,从而影响测量精度.本文对卡尺各机构环节在测量力作用下的变形关系进行了分析,推导出测量力产生测量误差的理论计算式,并应用有限元法进行分析.讨论了测量力、各测量参数和测量工件对测量误差的影响,以及对测量力的控制要求,同时给出了测量方式和卡尺结构尺寸的改进方法. 相似文献
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基于CNC齿轮测量中心的测量方式,分析了蜗轮齿侧形貌的测量原理,确定了测量的运动控制策略和齿侧形貌的评定、表达方法,用VC++6·0编写了蜗轮齿侧形貌测量软件,给出了测量实例。 相似文献
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针对空间点位测量的问题,设计了一种新型双光斑重叠式PSD空间点位测量系统。构建了测量系统的测量平台和运动控制平台,并将光电位敏传感器PSD作为测量系统测头上的靶标,形成了空间测量三角形,采用逐次逼近算法,使两个光斑在PSD上轮流交替跟踪,实现了测量系统的自动跟踪,并利用PSD对于光斑重心采集的原理,判断两光斑重合情况,进行了空间点位信息的采集测量。以某型航空发动机8级涡轮转子叶片为测量对象,用三坐标测量机和本测量系统分别对其进行了测量对比试验。研究结果表明,测量系统对距离测量系统1.5 m远处,对目标点的测量偏差为亚mm级,正向偏差维持在0.4 mm以内,负向偏差维持在-0.25 mm以内。 相似文献
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针对高精度支架零件尺寸测量效率低、误差较大的问题,制作了测量工装,编制了测量程序,利用三坐标测量机进行测量,进而减小了测量误差,大幅提高了测量精度和效率. 相似文献
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动态测量中测量力的确定 总被引:1,自引:0,他引:1
黄其圣 《仪表技术与传感器》1995,(2):1-7
在动态测量中应使测量头与工件保持接触,因此,必须合理地确定测量力的大小.本文讨论了动态测量中影响测量力大小的因素,导出了动态测量力的计算公式. 相似文献
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介绍了运动学法测量齿轮单项偏差的发展,包括齿轮整体误差测量、基于齿条测头的单项偏差测量、基于齿条测头的左右齿面同时测量。并基于运动学法,设计了同时测左右齿面的测量装置。该装置的设计能实现齿轮单项偏差的测量,为齿轮测量提供了新途径。 相似文献
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介绍了电子塞规式测量系统测量中型轴承套圈内径尺寸的工作原理,通过量仪移动、两点法测量方式,一次测量可完成轴承内径、圆度、锥度的评定,大大提高了测量一致性及测量效率。 相似文献
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针对现有光栅精密刻划加工难度大制约测量精度的问题,设计了一种以交变光场为测量媒介的时空耦合线性位移测量系统。该测量系统利用四路正交的交变光场与四组正交的正弦透光面调制耦合形成电行波信号实现高精度位移测量。在对测量系统测量原理分析的基础上,建立了该系统的理论模型和误差模型,通过仿真详细分析了该系统在时间相位不正交、空间相位不正交以及结构安装不平行时的误差规律。开展实验验证了一次、二次和四次谐波的产生原因,根据误差来源改进了测量装置的结构,优化了相应的参数。实验结果表明:在180mm测量范围内,用栅距0.6mm的测量系统实现了±0.4μm的测量精度。该测量系统规避了现有光栅精密刻划的问题,结构简单、安装方便,为光学位移测量提供了新思路。 相似文献
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