半导体级高纯双氧水中痕量杂质元素的检测

用高分辨电感耦合等离子体质谱测定半导体级高纯双氧水中的痕量金属杂质,用直接稀释法,把高纯双氧水稀释10倍后,用标准加入法进行上机检测,前处理简单、快速,避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱可以消除多分子离子干扰,降低检出限,提高定量准确性。方法的检出限为0.34~15.36 ng/L,加标法回收率为90.1%~102.5%。方法简单,结果可靠,适用于高纯双氧水中痕量元素的快速测定。     

高分辨ICP-MS测定电子级高纯异丙醇中杂质元素

利用高分辨电感耦合等离子体质谱测定电子级高纯异丙醇中的痕量金属杂质,用膜去溶进样系统直接进样,用标准加入法进行上机检测,无需前处理、快速,避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱可以消除多分子离子干扰,降低检出限,提高定量准确性。方法的检出限为0.45~20.79 ng/L,加标法回收率为88.2%~102.6%。方法简单,结果可靠,适用于高纯异丙醇中痕量元素的快速测定。     

膜去溶进样高分辨ICP-MS测定半导体级硝酸中杂质元素

利用高分辨电感耦合等离子体质谱测定半导体级高纯硝酸中的痕量金属杂质,用膜去溶进样系统直接进样,用标准加入法进行上机检测,无需前处理,快速,避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱可以消除多分子离子干扰,降低检出限,提高定量准确性。方法的检出限为0.69～23.73ng/L,加标回收率为88.2%～106.0%,方法简单,结果可靠,适用于高纯硝酸中痕量元素的快速测定。     

太阳能级多晶硅用三氯氢硅中金属杂质的检测方法

在洁净室里,采用在氩气保护下进行高纯三氯氢硅的挥发,然后用高纯酸溶解,用高分辨电感耦合等离子体质谱仪检测痕量金属杂质,方法的检出限为0.45~14.6 ng/kg,加标法回收率为89.6%~108.2%。前处理简单、快速,避免了在样品前处理时的污染问题,检测结果准确可靠。     

高纯氨中金属颗粒杂质检测方法

通过蒸发捕集法与溶液吸收法两种前处理方法,利用高分辨电感耦合等离子体质谱对高纯氨中痕量金属杂质进行上机检测。实验表明,双聚焦磁质谱对稀氨水中金属杂质方法检出限低达10-12级,对高纯氨中金属杂质方法检测限低于1×10-9 m/m。方法便捷、准确,容易避免前处理污染,可以作为高纯氨中金属杂质检测的有效手段。     

电感耦合等离子体质谱在长寿命放射性核素分析中的应用

电感耦合等离子体质谱(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer,ICP-MS)具有灵敏度高、检出限低、线性动态范围宽和可以进行多元素同时测定及同位素比测量等优点,是一种具有广阔前景的痕量(超痕量)无机多元素分析技术。ICP-MS检测半衰期大于几百年的放射性核素优于放射计数测量方法,用ICP-MS检测环境样品中痕量放射性核素,成为研究的热点。本文从长寿命放射性核素含量测定、同位素比测量及环境科学研究等方面对电感耦合等离子体质谱在放射性核素分析中的应用作了评述。     

微波消解-电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)测定木制食品接触材料中有害重金属

采用微波消解法处理木制食品接触材料,优化电感耦合等离子体质谱检测参数,建立木制食品接触材料中Sb、As、Cd、Cr金属元素的微波消解-电感耦合等离子体质谱的分析方法.对所测定元素,标准曲线相关系数为0.9999,方法的检出限为0.08～0.22μg/L,RSD＜5%,平均加样回收率84.9%～97.2%.方法准确可靠,可用于实际样品分析.     

等离子体直读光谱分析法在土壤环境样品分析中的应用

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定土壤环境样品中的Ba等20种元素。该法灵敏度高、检出限低、简单、快速,完全满足多目标地球化学品测试的需要。     

光纤用四氯化硅中金属杂质的检测方法

在洁净室里采用加热挥发的前处理方法制备光纤用四氯化硅样品,用高分辨电感耦合等离子体质谱仪(HR-ICP-MS)测试金属杂质含量,可以有效地提高各元素的分辨率,降低检出限,用加标回收的方式计算回收率在85.1-115.4之间。     

电感耦合等离子质谱法测定石英砂中十四种痕量杂质元素

文章根据不同石英砂的矿相、加工工艺,建立了密闭消解和微波消解等样品处理方法,利用电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）对石英砂中痕量杂质元素进行检测。采用Sc为内标补偿基体效应和仪器漂移。检测结果表明,密闭酸溶法与微波消解法无显著性差异（P≥0.05）;ICP-MS检测石英砂中痕量杂质元素准确度和精确度高,检测线性范围宽,检出限低,分析快速。测定结果的相对标准偏差（RS D）0.2%～5.0%,检出限为0.009～0.093 ng/ml。