电子元器件测试系统选型中的若干问题

本文探讨了测试需求和测试成本之间、测试系统和测试体制之间、测试系统和测试技术之间的关系,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统、选择小型测试系统和中、大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了一些看法。     

2013年《电子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势文章,从而深入剖析目前行业内的重点技术,找到市场与技术的结合点。     

2015年《电子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势文章,从而深入剖析目前行业内的重点技术,找到市场与技术的结合点。     

基于C^#的高低温自动化测试系统设计与实现

为了解决高低温环境测试中测试时间长,设备利用率低,数据记录数据量大等一系列测试问题,提出了基于C#和软件自动化测试理论的高低温自动化测试系统。该系统采用C#软件开发,利用计算机通信和控制技术,通过对测试设备和测试流程的自动控制,在保证测试安全、准确的前提下完成整个高低温测试实验,自动记录测试数据,并在测试结束后自动得出测试结论,达到了提高高低温箱测试利用率及减少测试浪费的目的。     

数字微流控生物芯片并行测试分析和优化

针对数字微流控生物芯片阵列的并行测试过程进行建模,利用测试时间和所需检测测试液滴个数来衡量测试成本,并利用成本函数给出最优的并行测试分块方法.通过matlab分析表明:对任何规模的芯片阵列,其测试成本随着分块数的增大呈先减少后增大的趋势,而成本的最低点就是最优的并行测试分块方法.另外,在并行测试分块数小于测试成本最低点所对应的测试分块数时,测试成本随着测试时间在测试成本中所占的比重的增加而增大,随着测试所需测试的液滴数的增大而减小.而并行测试分块数大于测试成本最低点所对应的测试分块数时,测试成本随着测试时间的比重地增加而减小,随着所需测试的液滴数的增加而增大.这些结论给并行测试的优化提供了重要了依据和指导.     

基于TestStand的DDS特性参数自动测试管理

介绍了基于TestStand软件对DDS特性参数进行自动化测试的流程管理.DDS测试参数包括常规参数和特性参数,常规参数由普通的专用测试设备即可测试,而特性参数由于测试项目繁多,测试要求高,采用普通的测试设备难以测全所有参数,且精度难以保证,通过外接高性能专用仪器对其测试是比较好的测试方案.由此带来的问题是测试资源杂多,需要一个统一的测试管理平台,对测试资源和测试流程做统一的测试管理.TestStand软件是一款非常优秀的测试管理软件.应用TestStand软件对DDS复杂的自动测试流程进行管理,方便了测试开发过程,极大地提高了测试开发效率.     

CTA8280集成电路测试系统的研究应用

集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。     

一种集成电路测试流程分级动态调整方法

针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.     

调制解调器自动化测试系统设计

为了提高调制解调器测试效率,提出了一种调制解调器自动化测试系统的设计方案。分析了调制解调器自动化测试需求,进而对自动化测试系统设计中的关键技术进行了详细的讨论;最后,对构建的测试平台进行了验证测试。结果表明,自动化测试较人工测试大幅缩减测试时间,能有效满足调制解调器研制生产的测试需要。     

超宽带无线电设备的测试

本文对超宽带无线电设备可能涉及到的测试内容进行了全面的介绍,包括区域性法规测试、辐射性能测试、空中控制测试、一致性测试、互联互通测试、环境性能测试,并对各个测试内容所涉及到的测试平台进行了介绍.     

基于TCG图和模拟退火算法的SoC测试调度

为了降低系统芯片测试成本,需复用IP的测试电路和测试矢量,过去几年已经涌现了许多新型测试结构.测试包和测试轨由于其结构简单,已经广泛应用于系统芯片的测试方案中.但基于测试包和测试轨的测试调度算法复杂度很高,难以获得测试调度的最优解,从而降低了测试效率.本文提出了基于传递闭合图(Transitive Closure Graph)的测试调度表示法,该表示法符合P-admissible准则,使组合优化算法适用于SoC测试调度问题.最后本文用模拟退火算法来优化测试调度,实验结果表明此算法调度的测试时间要比报道的结果都好.     

ATM测试介绍

介绍了ATM网络及设备需要进行的测试,包括ATM测试简述、ATM的一致性测试、互操作性测试、性能测试、网络测试和设备测试。     

一种3D堆叠集成电路中间绑定测试时间优化方案

中间绑定测试能够更早地检测出3D堆叠集成电路绑定过程引入的缺陷,但导致测试时间和测试功耗剧增.考虑测试TSV、测试管脚和测试功耗等约束条件,采用整数线性规划方法在不同的堆叠布局下优化中间绑定测试时间.与仅考虑绑定后测试不同,考虑中间绑定测试时,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构测试时间分别减少4.39%和40.72%,测试TSV增加11.84%和52.24%,测试管脚减少10.87%和7.25%.在测试功耗约束下,金字塔结构的测试时间增加10.07%,而菱形结构和倒金字塔结构测试时间只增加4.34%和2.65%.实验结果表明,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构更具优势.     

面向大型地震仪系统的自动化测试框架

由于自动化测试可以使用较少的人工干预实现自动执行大量测试工作从而可以大大提高测试效率,一直受到软件工程师的关注.自动化测试引入大型地震仪系统的测试中,提出了基于混合模型的大型地震仪系统自动化测试框架,并应用于大型地震仪系统的回归测试和稳定性测试中.测试效果分析显示,基于混合模型的大型地震仪系统自动化测试框架具有较高的脚本维护性,可有效缩短脚本维护时间,提高自动化测试效率.     

FPGA中六倍连线资源的测试

通过分析SPARTAN-II FPGA器件的结构及其连线资源分布特点,寻找一种能够快速配置测试、具有高测试覆盖率的测试配置设计。所提出的把六倍资源连线分别配置成多条横向和纵向环形链路的测试配置设计,提高了测试覆盖率,尽可能地减少了测试配置文件数量。测试验证表明这样的连线资源测试配置设计方法,可直接应用到SPARTAN-II系列的所有型号FPGA的测试。通过更改测试模型数据,甚至可以应用于VIRTEX系列的FPGA测试。这种测试配置设计的特点是:测试效率高且具有高的测试覆盖率、测试结构清晰易于故障定位、延展性强可应用于其他型号的FPGA测试。     

基于变周期重播种LFSR的测试生成

基于重播种的LFSR结构的伪随机测试生成中包含的冗余测试序列较多,因而其测试序列长度仍较长,耗费测试时间长,测试效率不高。针对此状况,提出基于变周期重播种的LFSR结构的测试生成方法。该方法可以有效地跳过伪随机测试生成中的大量冗余测试序列。在保证电路测试故障覆盖率不变的条件下,缩短总测试序列的长度。分析结果表明,同定长重播种方法相比,该方法能以较少的硬件开销实现测试序列的精简,加快了测试的速度,提高了电路测试诊断的效率。     

HP GSM系统基站安装及维护测试

GSM基站测试可分为两部分考虑,即基站安装测试及基站日常维护测试。 安装测试通常由基站制造商完成。在安装阶段,基站尚未提供服务(Abis尚未与基站控制器相连)。故这类测试属于中断业务测试。测试内容包括指标参数测试和功能测试。     

电子衡器中的计量测试技术应用

阐述电子衡器的特点,计量测试技术在电子衡器中的作用,电子衡器计量测试中的质量问题,包括抗静电测试、湿度测试、温度测试、计量测试。     

2012年《電子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势     

3G业务测试

介绍了3G业务测试的情况,主要有WAP／BREW业务测试,多媒体邮件业务测试、可视电话业务测试、移动流媒体业务测试、文件传输业务测试和开放式业务平台及其业务测试。