高速D／A转换器动态测试及分析

Ｄ／Ａ转换器的动态特性是随时间迅速变化的物理量。讨论了Ｄ／Ａ转换器动态特性的测试概念、原理和方法，着重阐述了Ｄ／Ａ转换器的更新速率、稳定时间、毛刺、真信号动态范围的概念，详细分析了其测试原理，探讨了稳定时间测试电路，并提出了简便而有产的测试方法。     

高速串行工ADC08038及其在微型测试装置中的应用

ＡＤＣ０８０３８Ｊ ８位农次逼近式Ａ／Ｄ转换器,具有串行Ｉ／Ｄ和可配置的高达８个通道的输入多路转换器。本文介绍了它在转换速率,功耗、电源方面的性能特点,给出了功能说明,最后介绍了它在微型测试装置中的应用。     

高分辨率A／D转换器AD7712与单片微机的串行接口

ＡＤ７７１２是一种适合低频测量的高精度Ａ／Ｄ转换器，片内含有两个输入通道，它能把传感器的小信号或大信号（±４×ＶＲＥＦ）变成串行数据输出。利用Δ转换技术，实现高精度，无失码的转换。可编程增益放大器（ＰＧＡ）不仅能满足模拟输入信号宽动态范围的要求，...     

高速串行ADC08038及其在微型测试装置中的应用

ＡＤＣ０８０３８是８位逐次逼近式Ａ／Ｄ转换器,具有串行Ｉ／Ｏ和可配置的高达８个通道的输入多路转换器。本文介绍了它在转换速率、功耗、电源方面的性能特点,给出了功能说明,最后介绍了它在微型测试装置中的应用     

A/D转换器非线性特性简易测试方法

A／D转换器非线性测试是A／D转换器静态特性测试的一项重要内容。相对于以往成本较高的测试方法，文章提出了一种简易可行的测试方法：利用高精度D／A转换器和低精度A／D转换器的精度差，借助8051仿真系统进行测试。实验表明，该方法成本低廉，操作简单，适用于A／D转换器非线性特性的初期评测。     

16位模／数转换器AD1380的原理,应用及与8031单片机的接口设计

ＡＤ１３８０是美国模拟器件公司推出的１６位并行或串行输出的模／数转换器．本文简单介绍ＡＤ１３８０的技术性能及与８０３１单片机接口中应注意的问题．     

16位A/D转换器的精度测试

文中好一种低成本、高可靠性的Ａ．Ｄ转换器（ＡＤＣ）转换精度的计算机辅助测试方法,并对测试系统的原理、结构及算法进行了描述。该方法适合于分率低于１６位的逐次逼近型ＡＤＣ的测试,对ＡＤＣ的入厂检验测试有一定的实用价值。     

精密电压基准

查询号：１８７ 数据转换系统的设计之所以是一 个难题，原因之一是系统精度很大程度上依赖于内部或外部ＤＣ电压基准所建立的电压精度。电压基准用来产生一个精确的输出电压，以此为数据转换系统设计满量程输入。在模／数转换器（ＡＤＣ）中，ＤＣ电压基准与模拟输入信号一起用于产生数字化的输出信号。在数／模转换器（ＤＡＣ）中，ＤＡＣ根据呈现在ＤＡＣ输入端上的数字输入信号，从ＤＣ基准电压选择和产生模拟输出。在工作温度范围内基准电压的任何误差将影响ＡＤＣ／ＤＡＣ的线性度和无寄生动态范围（ＳＦＤＲ）。实际上所有电压基准随…     

过采样Σ—Δ A／D转换器

对近采样Σ－ΔＡ／Ｄ转换器作了全面的描述。介绍了Σ－ΔＡ／Ｄ转换器的工作原理，着重推导了转换器中调制器阶数、过采样比和精度的关系，指出了调制器稳定工作的条件。最后，以１８位Σ－ΔＡ／Ｄ转换器稳定工作的条件。最后，以１８位Σ－ΔＡ／Ｄ转换器的调制器设计为例，详细阐述了Σ－ΔＡ／Ｄ转换器的设计过程，并给出了实验结果。     

四路12位D／A转换器MAX514及其应用

本文介绍一种１２位精度，串行输入的多路ＣＭＯＳ Ｄ／Ａ转换器ＭＡＸ５１４，并给出了其在科氏力质量流量量计中的应用实例，该设计具有接口简单，精度高，性价比高等优点。     

高速D/A转换器动态参数测试方法研究

对基于逻辑分析仪和频谱分析仪的高速D/A转换器的动态参数测试方法进行了理论分析和测试实践。通过编程,由逻辑分析仪给D/A转换器提供单一频率的数字正弦波和时钟信号;通过频谱分析仪,对D/A转换器输出模拟信号采样,进行快速傅里叶变换,分析得到D/A转换器的动态参数特性。实验证明,该方法能快速测试高速D/A转换器的动态参数,在实际应用中可获得良好的效果。     

串行数/模转换器DAC7714及基于FPGA的应用

DAC7714是美国TI公司推出的D/A转换器.它包括4通道12位串行数/模转换器和4个精密输出放大器.介绍了DAC7714的结构、功能及其在质谱仪器测控模块中基于FPGA的应用.     

基于FPGA的多通道串行A／D转换器的控制器设计

在低成本、多通道数据采集系统中,串行接口A/D转换器得到了广泛的应用,但是通道的轮换以及串行数据的传输会降低数据采集的速度和CPU的工作效率。以ADS7844为例介绍基于FPGA和VHDL语言的A/D控制器设计方法,并通过计算机时序仿真结果验证了该控制器的正确性。该控制器具有输入通道自动转换、数据并行输出等特点,提高了采集速度和CPU的工作效率。     

Simultaneous Static Testing of A/D and D/A Converters Using a Built‐in Structure

Static testing of analog‐to‐digital (A/D) and digital‐to‐analog (D/A) converters becomes more difficult when they are embedded in a system on chip. Built‐in self‐test (BIST) reduces the need for external support for testing. This paper proposes a new static BIST structure for testing both A/D and D/A converters. By sharing test circuitry, the proposed BIST reduces the hardware overhead. Furthermore, test time can also be reduced using the simultaneous test strategy of the proposed BIST. The proposed method can be applied in various A/D and D/A converter resolutions and analog signal swing ranges. Simulation results are presented to validate the proposed method by showing how linearity errors are detected in different situations.     

Static linearity error analysis of subranging A/D converters

An 8- to 10-bit CMOS A/D converter with a conversion rate of more than 16 megasample/second is required in consumer video systems. Subranging architecture is widely used to realize such A/D converters. This architecture, however, exhibits a reference voltage error caused by resistor ladder loadings. The error has been discussed with respect to a flash A/D converter by Dingwall. However, it can not be applied for a subranging A/D converter as it is. The analysis of this error is very important in realizing the desired accuracy of a subranging A/D converter. This paper describes a static analysis to improve the linearity, and reports the results of this analysis for two typical types, one with individual comparator arrays for coarse and fine A/D conversions, and the other with the same comparator array for both conversions. This analysis makes it clear that a subranging A/D converter has unique saw-tooth characteristic in fine linearity errors. Furthermore, this analysis clarifies what conditions are necessary to achieve the desired accuracy. It is necessary, for example, that the product of the total input capacitance of the comparators C, the conversion rate f _sand the total ladder resistance R is less than 0.03 in A/D converters with individual comparator arrays and 0.016 in A/D converters with the same comparator array in order to achieve 10-bit accuracy.     

Efficient Behavioural Modelling of Small Timing Errors in A/D and D/A Converters

In this paper, methods for analyzing the effects of small timing errors in D/A and time-interleaved A/D converters are studied. It is shown that timing skew and slew rate in D/A converters cause broadband spurious components, but the output spectrum can in most cases be calculated simply by averaging the errors over one sample period and using FFT at the original sample rate. Also the frequency-domain effects of mismatch in time-interleaved A/D converters can be constructed by calculating the mixing transfer functions caused by the time-varying gain and timing.     

A/D转换技术的应用与发展

首先分别介绍了当前六大模数转换技术的工作原理、电路结构、性能特点及应用领域,通过从转换速率、转换精度、分辨率、功耗、价格、面积等指标进行分析,将物理结构的设计与实际性能结合比较,总结出各自适合的应用领域.然后,根据对现有模数转换技术特点的分析及实际应用中对模数转换器性能的要求,对当前A/D转换技术向着高性能、低功耗、结构简单方向发展的趋势进行了预测.     

采用分段平移技术校正流水线A/D转换器级间增益的方法

分析了流水线A/D转换器采样电容与反馈电容之间的增益失配,探究了运放有限增益与流水线残差输出及A/D转换器输出的关系,建立了精确的系统模型。通过建立14位流水线A/D转换器Verilog-A的行为级模型,在数字域对流水线A/D转换器输出数字码进行分段平移。在第一级级间增益误差达到±0.012 5时,校正前信噪比仅为62 dB,校正后信噪比提升到85 dB。提出的校正方法可有效补偿由流水线级间增益导致的数字输出不连续和线性度下降。     

一种新型的输出缓存式光分组交换节点性能分析

光缓存和波长变换是解决光分组竞争的有效方法.提出一种称为FCOB的新型光分组交换节点结构,它使用固定波长变换器和输出式光缓存来解决光分组的竞争.针对FCOB交换结构,还提出一种有效的竞争控制算法.最后,使用仿真实验对FCOB的性能进行了评估.仿真结果表明,虽然使用的是固定波长变换器,但FCOB交换结构仍具有良好的性能.