绿纤石纳米微粒的聚集机制研究

透射电镜明场像、暗场像和选区电子衍射研究表明,绿纤石纳米微粒在葡萄石晶体中呈透镜状聚集体分布于葡萄石晶体的结构缺陷中,其聚集机制至少存在两种形式：一是依[100]方向形成平行连生,二是以（100）为双晶面、[100]为双晶轴形成面律双晶。研究方法对研究块体材料中纳米微粒的物理化学行为具有指导意义。     

川南滇北玄武岩晶洞中葡萄石的矿物学特征及颜色成因

利用光学显微镜和Ｘ射线粉末衍射仪、扫描电镜、电子探针及紫外－可见－近红外分光光度计等现代测试仪器设备,对川南普格和滇北昭通玄武岩晶洞中的葡萄石及其晶体聚集体的矿物学特征开展系统研究,探讨了葡萄石的颜色成因。普格葡萄石有微蓝的黄绿色和浅黄绿色两种不同的颜色,单晶体主要为板状,平行双面ｃ｛００１｝和斜方柱ｍ｛１１０｝较发育,平行双面ａ｛１００｝基本不发育,聚集体呈扇贝状、葡萄状,成分中除了Ａｌ_２Ｏ_３、ＳｉＯ_２、ＣａＯ、ＦｅＯ、Ｆｅ_２Ｏ_３外,还有少量的Ｃｒ_２Ｏ_３。昭通葡萄石表现为浅蓝绿色、浅黄绿色,甚至鲜黄绿色,单晶体以板柱状为主,常见单形为斜方柱ｍ｛１１０｝、平行双面ａ｛１００｝及ｃ｛００１｝,平行双面ｃ｛００１｝最发育,其次是平行双面ａ｛１００｝,斜方柱｛１１０｝出露的面积较小,聚集体主要为灯笼状,成分中不含Ｃｒ_２Ｏ_３。葡萄石的颜色主要是Ｆｅ^２＋、Ｆｅ^３＋、Ｃｒ^３＋等致色离子的晶体场分裂所引起,硅氧骨干外异价阳离子之间的类质同像替代所形成的空穴对葡萄石的颜色也有一定的影响。葡萄石颜色随铁（或铁和铬）含量的增加而加深,铬含量的增大有降低葡萄石晶体透明度的趋势。     

纳米硼磷酸盐NaZn(H2O)2[BP2O8]·H2O的低温离子热合成与表征

硼磷酸盐是一类包含硼氧基团(BO4、BO3)和磷氧基团(PO4)的新化合物,目前所报道的硼磷酸盐几乎都在高温高压条件下合成。近几年离子法用于硼磷酸盐的合成逐渐受到关注。基于离子液体的特点,尝试了常压低温下硼磷酸盐的合成,并成功地应用于以离子液体[Emim]Br为溶剂,常压、80～100℃条件下合成纳米硼磷酸盐Zn(H2O)2[BP2O8]·H2O。产物通过X–射线粉末衍射进行了物相表征,并用扫描电镜(SEM)观察其形貌。结果表明,Zn(H2O)2[BP2O8]·H2O可在80℃下,40min内快速形成,通过改变反应时间、温度和陈化时间,研究了其对硼磷酸盐纳米晶体形成及形貌的影响。     

岩石中α-石英腐蚀像在晶体缺陷定向及双晶鉴别中的应用

对福建魁岐花岗岩、大别山罗田地区条带状混合岩及其中的浅色脉体进行酸腐蚀并对腐蚀像进行研究。通过微分干涉相衬显微镜（DIC）、原子力显微镜（AFM）、扫描电子显微镜（SEM）对这3种岩石中α-石英颗粒的腐蚀像观察,结果表明：用腐蚀法可以对岩石中的α-石英颗粒进行定向,从而研究缺陷的走向;利用α-石英双晶腐蚀像的差异可以将道芬双晶与巴西双晶进行区别,通过统计发现3种岩石标本中道芬双晶出现的概率远远高于巴西双晶。观察腐蚀像作为一种研究岩石中α-石英缺陷与双晶种类的方法,具有比常用的衍射法更加直观且简单易行、费用低的优点。     

纳米SnO2及分子筛封装纳米SnO2簇的氢还原研究

研究了液相法制备的纳米SnO2和分子筛封装的纳米SnO2簇（Cluster）的氢还原情况，实验发现，与普＆SnO2微粒相比，纳米SnO2超微粒和分子筛封装的纳米SnO2簇的氢还原起始温度可降低100℃～150℃，氢还原起始表观活化能大小为SnO2微粒＞纳米SnO2微粒＞分子筛封装纳米SnO2簇。     

负温度梯度熔体中晶体生长取向与控制

研究了63－292K热力学过冷度范围内，Cu-Ni单相合金的凝固组织演化规律，分析了负温度梯度熔体中晶体定向生长的过冷度条件以及晶体生长取向机制与控制方法。结果表明：（1）在临界过冷度△T^*(≈106K）附近，晶粒细化过程受溶质扩散控制，在临界过冷度△T^**(≈200K)附近，晶粒经过程受热扩散控制；（2）在63－△T^*K范围内，晶体的生长方向是[100]，在127－△T^*＊K范围内，晶体的生长方向可以是[100]，也可以是[111]。     

纳米复合材料的结构与性能

以纳米Al2O3为增强材料，制备了EVA/Al2O3纳米复合材料，并采用FESEM、FT-NIR、SEM等测试手段表征纳米Al2O3微粒在EVA基体中的分散性与结构，研究了纳米Al2O3的质量分数对纳米复合材料力学性能的影响。结果表明：Al2O3微粒以20 nm左右的粒径分散于EVA基体中，并与EVA形成化学键合结构，复合材料的断裂机理发生变化。填充质量分数为0.5%的纳米Al2O3微粒时，拉伸强度提高13.0%；当加入的纳米Al2O3的质量分数为1%时，断裂伸长率可提高13.3%。     

EVA/Al_2O_3纳米复合材料的结构与性能

以纳米A l2O3为增强材料,制备了EVA/A l2O3纳米复合材料,并采用FESEM、FT-NIR、SEM等测试手段表征纳米A l2O3微粒在EVA基体中的分散性与结构,研究了纳米A l2O3的质量分数对纳米复合材料力学性能的影响。结果表明:A l2O3微粒以20 nm左右的粒径分散于EVA基体中,并与EVA形成化学键合结构,复合材料的断裂机理发生变化。填充质量分数为0.5%的纳米A l2O3微粒时,拉伸强度提高13.0%;当加入的纳米A l2O3的质量分数为1%时,断裂伸长率可提高13.3%。     

多晶体、大变形的本构理论的晶体弹—塑性有限单元法

由面心立方晶体滑移特性而建立的矩阵形式的晶体弹塑性本构方程,根据滑移的泛函式,推导出了大变形条件下的晶体弹—塑性有限单元法的计算公式,并绘制了程序框图,对双晶铝试样采用八结点六面体等参单元进行了有限元计算,结果证明该方法是可行的。     

La_2O_3-Mo阴极La_2O_3纳米粒子形成的研究

采用 ＸＲＤ、ＳＥＭ等方法对 Ｌａ２Ｏ３－Ｍｏ阴极中 Ｌａ２Ｏ３纳米粒子的形成进行了研究．在掺杂 Ｌａ（ＮＯ３）３的ＭｏＯ２粉还原阶段,发生Ｌａ２Ｏ３与ＭｏＯ２的固溶及Ｌａ２Ｏ３的脱溶,从而形成纳米Ｌａ２Ｏ３粉末．Ｍｏ晶粒表面上的纳米Ｌａ２Ｏ３微粒分布形式不同,导致了坯体材料中微米级和纳米级两种Ｌａ２Ｏ３微粒的存在形式．另外,粉末态的Ｌａ２Ｏ３纳米粒子在高温烧结过程中熔化,Ｌａ－Ｏ键断裂形成的Ｌａ３＋、Ｏ２－离子通过固溶、脱溶过程亦可形成坯体中的Ｌａ２Ｏ３纳米微粒．     

Axial electron channeling statistical method of site occupancy determination

Multibeams dynamical theory of electron diffraction has been used to calculate the fast electron thickness-integrated probability density on Ti and Al sites in the γ-TiAl phase as a function of the incident electron beam orientation along [100], [110] and [011] zone axes, with the effect of absorption considered. Both of the calculation and experiments show that there are big differences in electron channeling effect for different zone axes or the same axis but with different orientations, so we should choose proper zone axis and suitable incident beam tilting angles when using the axial electron channeling statistical method to determine the site occupancies of impurities. It is suggested to calculate the channeling effect map before the experiments.     

Enhancement of optical characteristic of InGaN/GaN multiple quantum-well structures by self-growing air voids

InGaN/GaN multiple quantum-well(MQW) structures with a wavelength range of green were successfully grown on a c-plane GaN template with SiO_2 stripe patterns along the [11-20] and [1-100] directions as a mask. The surface morphologies of both samples were investigated using scanning electron microscopy and demonstrated anisotropic growth characteristics of GaN. The optical characteristics were investigated using Raman spectra and photoluminescence(PL). The InGaN/GaN MQW structure grown on the GaN template with SiO_2 stripes along the [1-100] orientation exhibited less stress and higher PL intensity.Transmission electron microscopy results indicated that portions of MQWs were grown on an inclined semipolar plane, and air voids occurred only when the direction of the mask stripe was along the [1-100] orientation. The enhancement of the optical characteristic was due to the air-void structure and inclined semipolar quantum-well sidewalls.     

摆式聚焦-偏转复合电子光学系统的原理

提出一种新的聚焦偏转复合系统——摆式聚焦偏转复合系统(Pendulum combined Focusing and Deflection System)。PFDS主轨迹为直线,透镜场将电子束聚焦到象平面上,同时PFDS偏转器提供了必要的偏转场,使光轴同步地随入射电子斜率摆动。PFDS大大减小了各种离轴象差,而它的一级横向色差和三级畸变理论上为零。导出了实现PFDS的充要条件,以及在纯磁条件下三级几何象差系数和一级色差系数的明显表达式。     

Structure and internal stress of Au films deposited on SiO2／Si（100） andmica by dc sputtering

Au films with a thickness of about 300 nm were deposited on SiO2/Si(100) and mica substrates by dc sputtering. X-ray diffraction spectroscopy and field emission scanning electron microscopy were used to analyze the structure and internal stress of the Au films. The films grown on SiO2/Si(100) show a preferential orientation of [111] in the growth direction. However the films grown on mica have mixture crystalline orientations of [111], [200], [220] and [311] in the growth direction and the orientations of [200] and [311] are slightly more than those of [111] and [220]. An internal stress in the films grown on SiO2/Si(100) is tensile. For Au films grown on mica the internal stresses in the [111]-and [311]-orientation grains are compressive while those in the [200]- and [220]-orientation grains are tensile. Au films grown SiOJSi(100) have some very large grains with a size of about 400 nm and have a wider grain size distribution compared with those grown on mica.     

Structure and internal stress of Au films deposited on Si02/Si(100) and mica by dc sputtering

Au films with a thickness of about 300 nm were deposited on SiO2/Si(100) and mica substrates by dc sputtering. X-ray diffraction spectroscopy and field emission scanning electron microscopy were used to analyze the structure and internal stress of the Au films. The films grown on SiO2/Si(100) show a preferential orientation of [111] in the growth direction. However the films grown on mica have mixture crystalline orientations of [111], [200], [220] and [311] in the growth direction and the orientations of [200]and [311] are slightly more than those of [111] and [2201. An intemal stress in the films grown on SiO2/Si(100) is tensile. For Au films grown on mica the internal stresses in the [111]- and [311]-orientation grains are compressive while those in the [200]- and [220]-orientation grains are tensile. Au films grown SiO2/Si(100) have some very large grains with a size of about 400 nm and have a wider grain size distribution compared with those grown on mica.     

用布里渊散射法测量Li_2B_4O_7单晶的弹性系数和压电系数

首先简单叙述了用布里渊散射(Brillouin Scattering)测量晶体的弹性系数和压电系数的方法,并测得了国内首次生长出来的无芯Li_2B_4O_7单晶的全部弹性系数和压电系数,同时指出,该晶体在(100)晶面内声波传播沿[0,0,1]方向最慢,为5164m/s;沿[0,3~(1/2)/2,1/2]方向最快,为7505m/s,沿[1,0,0]和[0,1,0]方向声波传播速度为7087m/s。     

用数字滤波技术改善条纹图像的成像质量

对数字图像处理技术在电子剪切菜 干涉实验测试系统中的应用方法进行了研究。论述了运用该方法改善干涉条纹图像成像质量，提高测试精度的一些方法和步骤。     

铂配合物对4⁃硝基甲苯的高效荧光检测

易制爆类硝基化合物的检测是环境污染控制及公共安全领域的研究热点。以高荧光量子效率的发光铂配合物[Pt(ppy)(CH3CN)2]ClO4作为荧光探针,检测硝基化合物4⁃硝基甲苯(4⁃NT)。[Pt(ppy)(CH3CN)2]ClO4的荧光发射强度随着4⁃NT的加入而逐渐降低直至淬灭,利用Stern⁃Volmer方程拟合实验数据,得到[Pt(ppy)(CH3CN)2]ClO4对4⁃NT的检测效率KSV为40.2 L/mmol,最低检测限为1.83×10-6 mol/L。通过光谱实验及DFT计算证实,[Pt(ppy)(CH3CN)2]ClO4对4⁃NT的检测机理为能量传递机理及电子转移机理的协同作用。     

基于棱镜的多光轴平行性检测研究

反射棱镜是光学仪器中的一种重要光学元件,起着正像、折转光轴、缩小仪器尺寸等作用。反射棱镜的作用是使光轴变成折线,可以在空间折转,所以应有空间概念,从空间角度来研究物体及其像的共轭关系。本文应用动态光学【1】理论,从理论上分析了棱镜的特点,即对于平面非屋脊棱镜,当反射次数为偶数,出射光轴和入射光轴同向时,棱镜旋转像不产生偏转;对于平面屋脊棱镜,当反射次数为奇数,出射光轴与入射光轴反向,棱镜旋转像不产生偏转。根据该特点,将单个不同形式的棱镜或按一定要求将棱镜组合,使其入射光轴与出射光轴满足上述要求,即可将其应用到多光轴平行性检测中,替代大口径平行光管的作用,实现不受光轴口径限制的多光轴平行性的检测。本文列举了几种具有该特点的棱镜,并将其应用到实际多光轴平行性检测中。     

基于主方向高斯映射的旋转面特征提取

为了从点云中准确提取几何特征参数，给出了旋转面特征提取算法.该算法对旋转面主方向映射到高斯球面，生成主方向高斯图像（PDGI）. 对高斯球进行均匀分割，生成一系列小立方栅格，并将高斯球上图像数据点分配到相应的立方栅格中.根据每个栅格中的图像数据点数，对栅格聚类分析，获得一组特征栅格，由这组特征栅格中的图像点来确定大圆所在的平面，从而根据平面法矢确定旋转轴方向.根据旋转面法矢和旋转轴方向，获得旋转轴的定位点，从而确定了旋转轴.并给出了旋转轴的优化方法.计算实例结果表明，该算法能够稳定、准确地提取出旋转面的几何特征参数.