实现两个点光源干涉的研究

提出了在迈克尔逊干涉仪上实现二实点光源干涉的方法，分析了其干涉状态及实验结果，得出三个结论：（１）二会聚相干点光源的空间等光程差面为回转双曲面；（２）二发散相干点光源的空间等光程差面为回转双曲面；（３）一会聚和一发散相干点光源的空间等光程差面为回转椭球面。     

实现两个点光源干涉的研究

提出了在迈克尔逊干涉仪上实现二实点光源干涉的方法，分析了其干涉状态及实验结果，得出三个结论：（１）二会聚相干点光源的空间等光程差面为回转双曲面；（２）二发散相干点光源的空间等光程差面为回转双曲面；（３）一会聚和一发散相干点光源的空间等光程差面为回转椭球面。     

用迈克尔逊干涉仪测定透明介质的折射率

提出用迈克尔逊干涉仪等倾干涉法测定透明介质的折射率。实验证明,这种方法是有效和简便的,是对迈克尔逊干涉仪实验内容有益的补充。     

光纤Mach-Zehnder干涉仪臂长差的精确测量

提出了一种光纤Mach-Zehnder干涉仪臂长差的精确测量方法.理论分析表明,采用白光光纤Michleson解调干涉仪,白光干涉相邻峰值之间的距离为Mach-Zehnder干涉仪两臂光程差的一半.利用改进的干涉条纹观测系统和高精度的位移发生系统,提高了白光干涉峰值信号的识别精度,使Mach-Zehnder干涉仪臂长差的测量分辨率和精度分别达到了1 μm和10 μm.     

一种新的白光干涉谱数据处理方法

为了克服用极值法从白光干涉谱数据求解光程差存在的抗噪声能力差的缺点，提出了一种基于均方差最小意义下新的处理方法.该方法假定当光程差某个估计值与实际值最接近时，对应的干涉谱的均方差最小.首先对干涉谱测量值进行归一化处理，消除低频光强变化的影响，并用极值法求得光程差的初值，然后求归一化的干涉谱与基于初值的理想干涉谱之间的均方差，通过逼近法获得均方差最小时对应的估计值.数值仿真和实验结果表明，利用该方法处理白光干涉谱数据得到的光程差，不仅比极值法具有更高的数据精度，而且有效地提高了抗干扰能力.     

迈克尔逊干涉仪干涉机理的解析法与图解法

针对大学物理及物理实验教材中的不足,从波动理论出发,对迈克尔逊干涉仪产生各种干涉条纹的干涉机理用解析法和图解法进行分析并作比较.     

高稳定的光纤3×3耦合器干涉位移测量系统

利用光纤3×3耦合器和光纤光栅(FBG),构成能有效补偿环境干扰的光纤干涉位移测量系统。测量系统含干涉臂几乎重合的两个光纤迈克尔逊干涉仪,其中一个通过反馈环节补偿环境干扰的影响,实现对测量系统的稳定,使系统适合于在线测量;另一个用于完成测量工作。利用零差干涉相位测量技术对位移进行测量,测量结果的线性相关系数达0.999。     

基于反衬度的钠光特征谱线实验研究

提出干涉条纹反衬度测量概念,在迈克耳逊干涉仪上对双黄线的波长与波长差进行测量的原理和方法,并对实验测量过程中波长和波长差数据进行了细致的计算.实验测量结果与理论值一致,达到了预期的效果.利用反衬度方法在迈克尔逊干涉仪上实现对钠光特征谱线一种快捷有效测量方法,所测的数据较精确,对研究钠原子的内部结构提供可靠的实验数据,该测量方法可进一步拓展为物理设计性、应用研究性实验.     

迈克尔逊干涉仪干涉机理的解析法与图解法

针对大学物理及物理实验教材中的不足 ,从波动理论出发 ,对迈克尔逊干涉仪产生各种干涉条纹的干涉机理用解析法和图解法进行分析并作比较     

双缝干涉中光程差问题的理论分析

大学物理中光程差的计算是波动光学中干涉理论的一个重要的知识点,而以往波动光学中杨氏双缝干涉的光程差常用的近似计算法Δ≈2asin≈2atgθ中存在问题.通过数理分析发现光程差近似计算中:Δ≈2asin仅适合于大角度而不适合所讨论的干涉问题中的小角度情形;sin≈tgθ这种近似并不因和θ都很小就成立.最后给出了两种光程差近似计算的正确方案.     

Optical Fiber Bragg Grating Michelson Interferometer

The traditional bulk-glass optical interferometershave four mainforms,including Michelsonconfigura-tion,Mach-Zehnder configuration,Fabry-Perot con-figuration and Sagnac configuration.With the emer-gence of optical fiber,the corresponding fiber opticalinterferometers are developed[1].The principal ad-vantages possessed by all fiber optical interferometersare their geometric versatility,stability and mobilityas compared with the bulk interferometers.In thefiber optical interferometers,the coup…     

迈克耳孙干涉仪测薄透明体厚度和折射率

提出用迈克耳孙干涉仪同时测量薄透明体厚度和折射率的新方法．根据本方法，当插入迈克耳孙干涉仪光路中的被测透明体与光路呈不同夹角时，对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化定量测量．推导出圆环数、薄透明体与光路夹角、厚度、折射率关系，据此可测得薄透明体厚度和折射率．使用此方法，光学系统只需在测量前校准，测量中不再变动，可进一步降低系统误差．     

FTIR光谱仪双面镜程差扫描方式的研究

本文对现有博里叶交换光谱仪的程差扫描方式做了详尽分析，并在此基础上提出垂直双面镜转动扫描方式，这种扫描方式可使光程差与转角具有良好的线性关系，保持了移动扫描傅里叶变换光谱仪的通量优越性。采用垂直双面镜转动扫描的干涉仪结构简单，调节方便，具有良好的稳定性。     

利用光子晶体光纤产生光孤子压缩态

利用强度相关的自相位调制效应从实验中得到了光孤子幅度压缩态.实验装置主要部分为非对称的Sagnac干涉仪,光脉冲通过PC/FC接头连接到分光比为90:10的耦合器,耦合器与40m长的光子晶体光纤形成干涉环.在合适的输入功率下,干涉仪的输出端可以得到光孤子幅度压缩态.利用零拍平衡探测系统对光孤子幅度压缩态进行了检测,检测部分包括50/50分束器、2个低噪声光电探测器和1个加减法器与频谱分析仪.测得输入Sagnac环和输出Sagnac环光强分布曲线,以及以散粒噪声为基准的信号噪声的相对曲线,计算产生的光孤子振幅压缩态压缩率为1.6 dB.实验数据分析表明,选择合适的光子晶体光纤,能进一步增大压缩率.     

雷达组网系统抗干扰能力评估原则与准则研究

针对不同干扰样式的雷达组网系统的抗干扰能力评估难题,对雷达组网抗干扰能力评估原则与准则问题进行了深入研究.首先提出了抗干扰能力评估应遵循的6个基本原则,用以指导评估研究的思路和方法;然后对5种评估准则的特点进行了对比分析,指出了它们各自适用的雷达组网系统和相应的干扰方式.这为雷达组网系统抗干扰能力评估的仿真和试验提供了依据和参考.     

基于光谱型白光干涉仪的绝对距离测试研究

采用微型光纤光谱仪记录宽波段(450～900 nm)下的光谱干涉图,提出一种解包络线的方法来提取相位主值,同时由总光程差与棱镜折射率成正比的关系进行相位解包裹.由线性关系的斜率和截距分别求解得到棱镜的等效厚度和两参考镜之间的绝对距离.利用该方法测试了参考镜在不同位置处的距离,结果与千分尺数值之间的偏差小于1%,同时获得了99.9%的线性度.还测试了BK7玻璃的厚度,与其他方法相比,其精度达0.21%.分析了影响测试精度的因素,并对测距范围进行了讨论.     

双纵模双频激光干涉仪的非线性对测量精度的影响

对具有特殊后续电信号处理系统的双纵模双频激光干涉仪的非线性误差进行了研究。根据理论分析推导出了存在非线性时输出信号的表达式,并据此给出了非线性误差的表现形式是使混频输出信号产生漂移起伏,主要影响因素是偏振分光镜分光偏振度及光路调整理想程度。根据分光偏振度可计算信号最大漂移幅度及其带来的测量误差,计算出的漂移幅度值与实际观测值相近,该值可作为判断光路调整精度的一个标准,也是确定后续信号处理环节(细分辨向计数)中最大细分数的依据。     

全光纤加速度传感技术的研究

证明了光纤适合对加速度场的感知,研究了干涉型全光纤加速度地震检波器,得出光纤的应力应变和被测信号加速之间的关系,综合考虑全光纤加速度地震检波器灵敏频带的要求设计了变化光纤的长度和质量的大小和形状。采用交流相位跟踪零差检测的方法,使振动信号以电的形式得以真实地再现。研制的全光纤加速度地震检波器样机,具有抗电干扰、测量频谱范围宽,检测灵敏度高等优点,且输出信号与待测信号波形一致性好。用压电陶瓷同时完成了相位调制与误差补偿;利用干扰端面镀膜技术提高了反射光能量;采用双横向限制簧片有效地限制了质量块的横向振动。     

迈克尔逊干涉仪测波长的最佳区间的讨论

用迈克尔逊干涉仪的点光源非定域干涉测氦氖激光的波长时 ,其值总是偏大。笔者通过理论分析并结合具体实验找出产生误差的主要原因是由于两主镜面M1和M2 无法严格垂直造成的。并且得出了用迈克尔逊干涉仪测氦氖激光波长的最佳区间     

低相干光干涉法测量光子晶体光纤延时

对相位敏感型低相干光干涉(OLCR)法延时测量系统进行了理论分析,建立了相关数学模型,搭建了基于非平衡迈克尔逊干涉仪的OLCR测量装置,以掺铒光纤放大器(EDFA)自发宽谱光作光源,对光子晶体光纤(PCF)延时(1540～1560nm)进行测量,取得0.14ps左右的测量精度。利用该系统测量光学元件参数,多采用元件末端面反射光与参考光干涉,但对光纤等器件的延时参数进行测量时,利用透射光会更加方便。