X射线荧光光谱法测定不锈钢的分析研究

通过X射线荧光光谱法测定不锈钢的分析实验,找出了影响其分析精度和准确度的各种因素,并就其主要影响因素X光管的功率选择、试样的制备、类型标准化的参数设定等方面进行了分析研究.研究结果显示：应用X射线荧光光谱法测定不锈钢可完全替代化学湿法分析.     

熔融制样X射线荧光光谱法测定铌铁合金中的铌铝钛

铌铁合金采用传统的化学分析方法耗时、分析速度慢、操作繁琐。采用硝酸、氢氟酸对铌铁合金样品在常温下消解，浓缩后加入溶剂熔融成型，用X射线荧光光谱法进行分析。该分析方法具有很好的精密度与准确度，测定结果快速准确，满足常规分析要求。     

X射线荧光光谱法在铁矿石测定中的应用

介绍了采用X射线荧光光谱法分析铁矿石的改进方法,改进后的方法分析结果准确度可以满足ISO 9507标准方法的要求。     

矿石中金的X射线荧光光谱测定

由于矿石中金的含量极低,而测最数据的准确度和精密度要求又高,因此在采用X射线荧光光谱法测定之前,必须用化学法进行富集。本文采用的方法是:王水分解样品,TBP萃淋树脂反相色层分离,硫脲解析金,薄膜法制样,X射线荧光光谱法测定。探测限为0.1～0.2微克。测金的线性范围为0.11微克/毫升至10微克/毫升。准确度与精密度良好。     

两种不同分析方法测定区域地球化学样品中砷含量比对

为了准确快速的测定区域地球化学样品中的砷(As)含量,本文采用两种不同方法测定样品中的砷(As)含量。原子荧光光谱法的测定下限为0.16mg.kg^-1,准确度为-0.009%～0.025%,精密度为2.93%～6.60%,X射线荧光光谱法的测定下限为4.0mg.kg^-1,准确度为-0.097%～0.071%,精密度为0.90%～22.60%。通过结果比对原子荧光光谱法优于X射线荧光光谱法。     

热镀锌合金化层铁含量对X射线荧光光谱法 测定镀层质量影响的探讨

采用X射线荧光光谱法(XRF)测定热镀锌合金化镀层时,由于ZnKβ或FeKα特征谱线强度随着合金化层中Fe含量的变化而变化,导致镀层分析结果产生偏差。实验分别用X射线荧光光谱法和重量法进行合金化热镀锌样板的镀层质量检测,验证不同Fe含量变化对X射线荧光光谱法分析镀层质量的影响程度;建立了两种检验方法的差值与Fe含量的回归关系,利用w=(w_Fe-10.81)/0.9960+w＇(其中w为校正后镀层质量;w_Fe为铁含量,%;w＇为校正前X射线荧光光谱法测定的镀层质量)对X射线荧光光谱法测量镀层质量偏差的校正。研究表明:Fe质量分数控制在8%~12%范围内,采用X射线荧光光谱法测量合金化镀层质量能满足精度控制要求,可以接受;w(Fe)＜8%或w(Fe)＞12%时,利用回归方程式理论校正由于Fe含量变化引起的X射线荧光光谱法测量合金化镀层的偏差,提高了分析准确度。对不同Fe含量合金化热镀锌钢板镀层质量的验证结果表明,校正后镀层质量的测定值与重量法测定值一致。     

X射线荧光光谱法测定掺锡氧化铟粉中铟量和锡量

用X射线荧光分析专用试剂熔片,溴化锂为脱模剂,制备玻璃片样片,进行实验条件优化选择,应用X射线荧光光谱法测定掺锡氧化铟粉中铟量、锡量,具有较高的准确度和精密度.     

X射线荧光光谱法测定复式碳化物中钛含量

采用氧化、熔融对样品进行处理,以X射线荧光光谱法测定钛含量,方法简单快速,分析结果的精密度高、准确度好,与化学分析对照,结果基本一致。     

X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的氧化钇

采用粉末压片法，用X射线荧光光谱法对锆钇粉体中氧化钇进行了测定，运用DJ数学模式进行干扰因素和基体效应的校正，其分析结果的精密度和准确度可满足生产分析要求。     

能量色散X射线荧光光谱法测定土壤中铬和锰的干扰校正

使用能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)对土壤中的重金属元素进行检测基本都是针对国家标准中提到的8种重金属,目前土壤中重金属锰的污染也引起了重视。实验采用EDXRF对土壤中的重金属铬和锰进行快速检测,为了提高铬和锰测试结果的准确度,用与之产生吸收增强效应和谱线干扰的元素对土壤中的铬和锰进行校正;使用土壤标准样品绘制校准曲线,校正前铬和锰的线性相关系数分别为0.853和0.717,校正后铬和锰的线性相关系数分别为0.998和0.991,线性明显变好。对一个土壤样品进行精密度考察,铬和锰测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为7.2%和0.66%。用能量色散X射线荧光光谱法对土壤样品中铬和锰进行检测,结果与波长色散X射线荧光光谱法测定结果一致。