微波组件产品高加速寿命试验综述

微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素.高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节,从而改善产品的可靠性.因此,对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍,对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义.     

一般性问题

TN061 2003010001机电产品寿命与可靠性综合验证试验技术研究/龚庆祥,王自力(北京航空航天大学)11航空学报一2 002,23(4)一349一352大量机电产品既有可靠性指标要求,又有寿命指标要求,且在研制阶段结束时,需通过试验给出两种指标的验证结果.在对寿命与可靠性综合验证试验的可行性研究的基础上,提出了对其可靠性与寿命指标同时进行综合验证的试验方案.主要介绍该试验方案中的关键内容:试验时间、失效(故障)判据、试验接收与拒收的判决准则的确定、试验结果的评估方法等.该试验方案的应用,为部分机电产品的寿命与可靠性试验验证提供了一个合…     

电子产品加速寿命试验研究

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理...     

电子元器件加速寿命试验方法的比较

加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.     

浅谈对集成电路加速寿命试验的认识

老炼、稳态寿命等加速寿命试验是衡量集成电路使用寿命的主要手段。文中简要介绍了集成电路的主要可靠性指标——FIT,呈现集成电路失效特征的"浴盆曲线",以及不同失效阶段的主要影响因素、失效率与时间相关的统计分布特征。在此基础上,文章对老炼和稳态寿命的试验目的进行了说明,并列出稳态寿命试验的等效试验条件表以及通过该试验的集成电路使用寿命的一些参考数据。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

接口混合集成电路长期工作寿命预计及验证

寿命试验常被用来评估集成电路等半导体器件的可靠性,为了节约试验时间,常采用加速寿命试验方法去评估集成电路产品的工作寿命。采用基于可靠性手册中器件失效率历史数据和基于失效物理模型两种方法对接口混合集成电路的长期工作寿命进行了预计及验证。首先,通过接口混合集成电路产品多批次寿命可靠性试验的历史数据计算出了电路工作寿命;然后,基于可靠性手册中器件失效率的历史数据、模型及其使用特性要素计算出产品的工作寿命。结果表明,两者较为接近;从而证明该类混合集成电路在加速寿命试验数据不够的情况下,采用基于可靠性手册中器件失效率数据对其进行寿命预测是可行的,为接口混合集成电路长期工作寿命评估提供了一定的参考。     

基于失效机理的半导体器件寿命模型研究

微电子技术的发展使得集成电路的可靠性愈来愈重要,为了在较短的时间内得到产品可靠性数据,使用加速寿命试验是十分有效的方法.而使用加速寿命试验进行可靠性分析,关键是能够得到合适的寿命模型.不同的失效机理对器件寿命的影响是不同的.详细考虑了半导体器件的3个主要失效机理:电迁移、腐蚀和热载流子注入的影响因素,介绍了相应的寿命模型,并且通过具体的数据计算所得到的加速因子,对半导体器件在不同状态下的寿命情况进行了比较.     

光通信用高速光电子器件和光模块质量考核试验问题研究

介绍和讨论光通信用高速光电子器件和光模块的质量考核试验相关标准、可靠性试验项目、光电子器件和光模块抽样方案、加速寿命试验和平均中值寿命等问题。     

LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法

介绍了一种关于发光二极管（LED）可靠性评估的加速寿命试验设计方法。通过这个方法,在针对LED的性能退化现象和运行不稳定问题进行加速试验设计时,可以在已知目标可靠度和置信度的前提下,定量地确定满足可靠性要求的试验用样本量、加速应力水平以及试验时间。同时,用于发光二极管加速寿命试验的基本设计思想,可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。     

加速可靠性试验技术及其应用

加速可靠性试验是一项新兴的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比.从全寿命周期管理的需求出发,对加速可靠性试验技术进行了简要的介绍,讨论了加速可靠性试验对于加强军品质量控制的作用,介绍其研究现状,并对如何深入开展加速可靠性试验的研究与应用工作提出建议.     

浅论可靠性工程发展的若干方向

本文对可靠性工程的一些重要方向的研究情况进行了扼要的介绍与评述.这些方向包括复杂系统的可靠性综合,可靠性变动统计学,低可靠元件组成高可靠系统,含增长单元的复杂系统的可靠性综合,加速寿命试验,加速可靠性增长试验,产品寿命预测及发动机可靠性评估.     

电子元器件的有关可靠性试验

可靠性试验是为了评价和分析产品的可靠性特征而进行的试验。试验包括有环境、筛选、交收验收、测定、鉴定验证、认证以及寿命与加速寿命试验等等。 可靠性增长试验是为暴露产品的薄弱环节,并证明改进措施能防止薄弱环节再现而进行的系列试验。从广义上来讲,凡属以改进产品的可靠性为目的而进行的试验都可以作为可靠性增长试验的一种手段,但要注意的是可靠性增长试验是一个有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进有效的一个过程。 可靠性增长试验同一般可靠性试验的区     

电子元器件质量与可靠性管理

本文介绍了电子元器件质量与可靠性管理的基本概念知识，重点介绍了可靠性技术管理方面包含的各个要素，特别是针对可靠性设计、试验、生产等管理过程中的实施方法和工作重点进行了详细说明，并对元器件可靠性工作程序中的各个工作阶段的内容和要求进行了阐述。     

电机控制器电子器件可靠性研究

本文针对电机控制器电子器件在储存状态下的可靠性问题,首先分析、确定了可靠性加速寿命试验模型,然后设计了电机控制器试验电路板和监控电路,并根据确定出的试验参数对电机控制器试验电路板进行可靠性寿命试验,得出了电机控制器电子器件在正常储存状态下的寿命。     

引进产品贮存可靠性试验评价方法探讨

提出了一种基于性能退化的贮存加速试验和元器件贮存寿命特征检测分析相结合的方法来进行引进产品电子部件贮存可靠性试验评价研究,并介绍了贮存加速退化试验和寿命特征检测的有关方法。     

电子元器件的贮存可靠性及评价技术

贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面.阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析.     

可靠性强化试验及其在雷达研制生产中的应用

可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。     

有Al激光器和无Al激光器的工作寿命对比研究

为了证明无Al激光器在可靠性方面优于有Al激光器,对InGaAsP/GaAs无Al和AlGaInAs/AlGaAs/GaAs有Al的808nm大功率半导体激光器进行了常温下电流步进加速老化寿命试验,介绍了半导体激光器寿命试验的理论依据,给出寿命试验的数学模型,据此得到了器件在常温电流步进条件下的寿命,利用最小二乘法拟和得到加速老化的加速方程,从而推算出激光器的特征寿命,分析了有Al激光器和无Al激光器寿命对比结果,提出了材料中含Al对器件可靠性的一些不良影响,无Al激光器可靠性明显优于有Al激光器.     

GaAs器件寿命试验及其方法比较

本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件慨述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测方法对于GaAs PHEMT器件的可靠性保证具有非常重要的意义.