偏光干涉法测量液晶的双折射率

为了测量液晶双折射率,从偏光干涉的理论公式入手,通过一定的近似,采用偏光干涉法测量液晶双折射率,进行了理论分析和实验验证,获得了较为理想的数据。结果表明,在采用偏光干涉法测量液晶材料的双折射率时,避免了对透射光谱的绝对光强进行测量,使得测量结果具有较高的精度。这一结果对液晶器件的设计、制作和使用是有帮助的。     

一种向列液晶双折射率测量的简易方法

为了测量向列相液晶的双折射率,根据等厚干涉原理,设计了一种劈尖测量方法.通过调整劈尖的方向实现了o光(寻常光)和e光(非寻常光)转换,通过观测空气和液晶界面条纹数目之比,分别测定了o光和e光的折射率.结果表明,本方法简单方便,可以避免很多因素对测量结果的影响,误差可控.     

TN型液晶双折射率的简易测量方法

为了实现一种简易的测量TN型液晶双折射率的方法,根据等厚干涉原理设计了一种楔形液晶盒。通过调节入射光的偏振方向而无需调整液晶分子取向实现寻常光（o光）和非寻常光（e光）,成功测量了液晶长轴方向和短轴方向的折射率。结果表明,本方法简单方便,能达到测量的基本要求。     

迈克尔逊干涉仪测量空气折射率随温度变化

在迈克尔逊干涉仪一光路中固定一透明玻璃管,通过改变玻璃管内空气的压强来观察干涉条纹的"吞吐"数量,来计算空气折射率.本文将研究改变开放玻璃管内空气温度时,测量干涉条纹的"吞吐"数来测量空气折射率,为迈克尔逊干涉仪测空气折射率提供了一种新的思路和操作方法.     

液晶双折射效应的再研究

通过改变加在液晶盒上的电压和入射光的波长．利用分光光度计测量偏振光通过液晶盒的透射率，对液晶的双折射效应进行了深入研究，得出了液晶双折射率随电压变化的规律。所得结论为偏光器件的设计与制作提供了依据。     

向列相液晶电热光效应的实验研究

通过研究在变化的温度下向列相液晶BL-009的电控双折射率特性,探讨了向列相液晶的电热光效应。实验上采用简单、精确的偏光干涉法,在入射光波长为630nm、测出从室温 20℃～100℃时,液晶的透射率随温度的变化曲线。从而得到液晶电控双折射率随温度的变化曲线。分析实验数据可知,液晶的电控双折射率随温度的升高,在外加电压值不同时具有不同的变化规律。此实验结果对液晶器件的设计、制作、使用都具有一定的参考价值。     

偶氮掺杂液晶中热致光学非线性的测量

偶氮掺杂液晶具有非常强的三阶光学非线性,其非线性机理包括光致热效应等多种物理机理。为了测量偶氮掺杂液晶三阶光学非线性,本文采用非线性干涉法,定量测量了波长632.8nm下,光强变化所引起的折射率改变。为了测量得到热效应对掺杂液晶非线性的贡献,我们提出了温度等效法,通过在暗室中加热掺杂液晶样品产生与光照时相同的温度变化,模拟出等效的热效应,从而将热效应从多种非线性机理中单独区分出来;通过测量此时的折射率改变,以及对应的温度和光强变化,得到了热效应导致的光学非线性。为了提高非线性干涉方法的灵敏度和消除环境震动带来的误差,本文采用了双路干涉的方法,使得测量精确性大为提高。测量结果表明:在波长632.8nm下,掺杂液晶三阶非线性系数n_2为0.268cm~2/W,其中热效应的贡献为0.091cm~2/W。     

液晶材料与STN型液晶盒制造工艺的适应性探讨

本文叙述了在TN型液晶器件制造过程中,液晶材料的选择特点,STN型液晶器件与TN型液晶器件液晶材料选择的区别及STN型液晶器件的液晶材料选择要点,最后本文还对STN型液晶器件制造过程中液晶材料的选择与配制作了简要概述。     

强激光诱导液晶衍射环现象的实验与数值研究

强激光在液晶材料中传输时易诱导非线性效应,这种非线性效应对液晶器件光学性能有一定影响。高斯光束通过平行排列的5CB液晶材料后产生自衍射图像,利用高速相机对不同光强的532nm激光通过5CB液晶后的衍射图样成像,获得了从激光作用瞬间到液晶温度达到清亮点附近时衍射图样的变化过程。通过衍射图样对液晶材料光致折射率变化的性质进行了分析。利用基尔霍夫衍射积分公式数值模拟研究了相应强度532nm高斯光束通过非线性液晶材料后在衍射屏上的衍射图样,并与实验结果进行了比对,定性分析了液晶非线性对液晶器件性能的影响。     

基于FPGA的液晶盒厚快速测量系统

在复杂的液晶显示器制造工艺中,液晶盒厚及其测量对液晶滴入量起着关键作用,进而影响液晶显示器件的底色及响应速度等光电特性.从光干涉原理出发,以FPGA为核心芯片,利用倾角传感器、光电传感器等模组设计了液晶盒厚快速测量系统,通过实验验证,系统具有误差小,设备简单,操作快捷等特点,满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02％以上,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和液晶量准确计算的需要.     

基于空芯光子晶体光纤的F-P干涉式折射率计

提出了一种基于空芯光子晶体光纤(HCPCF)的Fabry-Perot(F-P)干涉式高灵敏度折射率计。利用被测液体进入F-P腔后可改变腔内介质的折射率,从而使得干涉光光程差发生变化这一特点,通过检测光程差的变化就可实现对液体折射率的测量。实验结果表明,对折射率在1.3340～1.3612内变化的不同浓度酒精溶液测量时,光程差变化了9.508μm,其折射率测量灵敏度可达187μm/RI     

LED背光对LCD色彩的影响

研究LED背光对液晶器件色彩的影响和CSTN及TFT—LCD白色色度坐标的变化规律，以及LCD的红、绿、蓝三色受LED背光的影响规律及色彩还原性的变化，并对背光发光光谱和液晶屏的透过光谱进行了测量比较。     

激励态向列微滴散射理论的修正及其参量拟合

用反常衍射(ADA)理论与实验数据优化拟合方法分析了聚合物分散液晶(PDLC)微滴在633nm激光照射下的散射特性与微滴尺寸、聚合物折射率的关系。在聚合物分散液晶中除了液晶微滴本身的散射以外，还有例如界面散射、杂质散射、材料折射率不均匀等附加散射因子，考虑这些因素以后对反常衍射散射理论进行了修正，提出用参量拟合来测量聚合物分散液晶中聚合物折射率、微滴半径以及液晶体积百分数等参量的方法。测量了微滴的直径在2μm左右聚合物分散液晶的参量。结果表明，对聚合物分散液晶聚合物折射率的误差在5％以内，而对液晶体积分数的测试误差较大，达到10％左右。     

液晶介电常数在微波至太赫兹频段测试技术

基于液晶材料的器件成为毫米波及太赫兹波领域的重要方向之一,文中总结了毫米波太赫兹波液晶器件的研究进展,介绍了液晶移相器的基本原理及应用,分析了液晶介电常数的主要测试方法,如传输线/反射法、谐振腔法、自由空间法、时域法等,比较了不同方法的测试频率范围和优缺点,并给出了向列相液晶材料在微波毫米波及太赫兹波段的介电常数的主要测试结果。     

级联光子晶体Mach-Zehnder干涉仪的可调谐滤波特性

基于液晶的电控双折射特性和光子晶体自准直特性,在二维光子晶体引入复合缺陷提出一种可调谐Mach-Zehnder 干涉(MZI)滤波器结构,应用液晶系统的自由能理论,推导了外加电压与液晶有效折射率的关系,并结合MZI 相位调制原理和光子晶体等效折射率理论,得到液晶的电控双折射特性与MZI 滤波器的输出光谱间的数学关系,运用时域有限差分法(FDTD)对滤波器的输出进行仿真模拟,并根据仿真结果对结构进行一级级联的优化设计。结果表明:通过控制外加电压的大小可以改变输出端的透射波长,达到可调谐滤波的效果,并且一级级联后的滤波效果比级联前有很大的改善,滤波的半波带宽从20 nm 减小为7 nm,可调谐范围从15 nm 增大为40 nm,因此可以通过进一步级联的方式使滤波器结构更加的优化,以便运用到光波分复用系统中。     

红外波段液晶电调谐滤波器

将液晶作为内腔物质的电调谐滤波器，测量了在红外波段不同条件下的透射特性，给出了大约１００ｎｍ的可调谐范围和约４０ｎｍ的自由光谱区，通过对透射谱的测定和计算得到了液晶折射率随驱动电压的变化曲线。     

用于自适应红外焦平面探测器的液晶微透镜阵列

主要讨论了面阵电控液晶微透镜在设计、制作和测试等方面的若干关键性问题,主要包括:(一)进行了液晶结构电极间的电场分布仿真;(二)通过标准微电子工艺制作了原理性器件;(三)采用高斯激光束照射液晶结构,在改变驱动电压的情形下获得了所需要的电控光学干涉性能.所制作的阵列液晶微透镜具有制作工艺简单、器件紧凑、灵巧、功耗低、操作方便、易于匹配耦合与集成等特点.分析了将所发展的液晶微透镜技术用于改善和增强红外焦平面探测结构的光电性能等方面的问题.     

白光干涉技术测量晶体的弹光效应

介绍运用折射率椭球 ,分析晶体的弹光效应 ,对测量群折射率的迈克尔逊白光干涉技术进行了改进 ,采用光栅线位移传感器提高反射扫描镜的位移精度 ,测量了石英晶体在不同的外力下 ,折射率的变化情况 ,从而确定了晶体的弹光系数     

基于光谱干涉技术的玻璃厚度及折射率测量方法

基于光谱干涉技术提出了一种能够同时测量玻璃厚度及折射率的方法,该方法利用迈克尔逊光路,通过傅里叶变换算法对光谱仪接收的干涉信号进行解算,获取光谱干涉条纹的调制周期,根据待测玻璃样品放入测量臂前后,测量臂与参考臂所形成的光程差即可求出玻璃样品的几何厚度和折射率。该方法无需机械扫描延迟线并采用改进的傅里叶域下的相位提取算法,提高了测量系统抗干扰能力,探测速度快。实验结果表明:对玻璃样品的厚度测量精度优于±1μm,折射率测量精度±5×10^-4。