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无线局域网技术迅猛发展,但由于无线网络是基于无线的通信技术,非法设备问题成为网络管理中重要问题。描述了非法设备的危害和现有的非法设备的检测方法,提出了一种基于现有网络布局的经济的非法设备检测系统的设计方案,并对其实现方法进行了描述,最后通过实验证明了该方案的可行性。 相似文献
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半导体生产线是目前世界上公认的最复杂的制造系统,刻蚀设备是半导体晶圆制造过程中最复杂的系统,刻蚀设备的调度算法是系统生产管理控制的核心功能。目前国内大多数的研究都是针对于fab级别的任务调度,而针对单独的刻蚀设备的优化算法的研究很少。在此,笔者提出了一种基于规则的实时晶圆调度算法,力求实现生产周期缩短、提高设备产能的目标。 相似文献
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总线式电容型设备绝缘在线检测系统 总被引:1,自引:0,他引:1
变电站电容型高压设备繁多,分布分散,适合应用现场总线技术组建总线式的电容型设备绝缘在线检测系统。阐述了基于分压电容的信号采集原理,提出了多下位机同步采样控制方法。基于这些原理方法,开发了一套容型设备介损在线检测系统并应用于实际工程,实践验证了该方法和设计方案的可行性。 相似文献
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本文根据工业设备的故障特点,钭故障检测与容错技术相结合,提出利用故障信息对设备运行状态进行预测维修的管理方法,并对其具体实现问题进行了分析和讨论。 相似文献
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The defect of process equipments is a major factor that impairs the yields in the mass production of semiconductor wafer fabrication and it is a main supervision means to use high-resolution defect inspection tools to detect and monitor the defect damage. Due to the high investment costs of these inspection tools and the resulting decrease in the throughput, how to improve the sampling rate is an important issue for the associated inspection strategy. This paper proposes a new concept and implementation of virtual inspection (VI) to enhance the detection and monitoring of defect in semiconductor production process. The underlying theory of the VI concept is that the state variables identifications (SVIDs) of process equipments can reflect the process quality effectively and loyally. The approach of VI is to combine the application of the fault detection and classification (FDC), and the defect library and the re-engineering of inspection procedure to reach the full-scope of strategic objective. VI enables the defect monitoring to enter a new era by promoting the monitoring level of defect inspection from the previous lot-sampling basis to the wafer-sampling level, and hence upgrades the sampling strategy from random-sampling to full and right-sampling. In this study, various typical defect cases are utilized to illustrate how to create VI models and verify the reliability of the proposed approach. Furthermore, a feasible architecture of the VI implementation for mass production in semiconductor factory is presented in the paper. 相似文献
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针对国内半导体生产后工序设备中的焊机一人一机手动的现状,提出对手动焊机改造的方案,重点分析图像识别系统可以利用的两种方法,即硬件型图像处理系统和软件型图像处理系统,并结合实际情况选择采用后一种方法。同时具体设计了自动焊机的硬件系统和软件系统。该方案可以实现在原有设备基础上,用少量的资金,将原有的设备改造成自动设备,大大提高了人均生产率和产品的合格率。 相似文献
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为了满足直升机机载设备的高可靠性要求,利用VC设计了机载设备的检测软件,对机载设备各功能模块进行检测,并将检测得到的数据保存到数据库中进行管理,最终提高了直升机操纵台设备工作的可靠性;通过采用MSComm控件实现检测软件和操纵台之间的串口通信,并介绍了如何通过ADO来实现VC下访问数据库的方法,实现检测数据的管理,同时介绍了通过使用NI公司提供的CWGraph控件将采集到的检测数据进行实时曲线显示的方法;最终将该软件和机载设备进行联调,联调的结果证明了该设计的有效性。 相似文献
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针对半导体制造行业,提出了一种仿真调度方法来辅助调度员进行生产作业计划的编制,系统的实用性占据首要地位。方法采用了人机交互策略,使得调度员能够实时地监控车间设备的生产情况,方便对各台设备进行任务分配,并能形象地仿真调度结果。 相似文献
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自动金丝球焊机是半导体制造后端工序的关键设备之一,图像识别系统是其核心技术.通过直方图均衡、种值滤波实现图像的增强、去噪,采用MPSA算法减少计算量,同时结合计算机并行处理技术,利用MMX指令对图像处理部分进行代码优化.该图像识别系统已成功应用于手动金丝球焊机中,将其改造为自动金丝球焊机. 相似文献
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车身焊装生产线上多台工业机器人应用技术的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文讨论利用系统集成技术和计算机仿真技术的方法,根据用户提出的工艺要求和操作要求
进行工业机器人、焊接设备以及周边设备的选择,工业机器人焊接工位的设计与安装,自动
控制系统(PLC)的程序编制和机器人程序编制以及对若干关键技术的研究. 相似文献
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The design of semiconductor devices is an extremely complex and costly process. Numerous design and test iterations are typically necessary to finally complete a successful device. Competition in the industry has forced semiconductor manufacturers to reduce design cycle times and costs. One method now being used to accomplish these objectives is concurrent engineering. This paper will review how concurrent engineering is being integrated into semiconductor device development and how artificial intelligence-based models will support concurrent engineering implementation. Major changes are needed in design simulation, methods of knowledge sharing, and incorporating best practices. A semantic network is proposed that retains the knowledge of a product in a central repository as various engineers contribute to the product's development. The knowledge contained in this central repository can be referenced for applicability by engineers during product design, development, and production. 相似文献
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全自动上芯机的晶片检测系统 总被引:1,自引:0,他引:1
全自动上芯机是用于芯片生产后工序的关键设备之一,IC检测系统是其核心技术。晶片检测系统主要构件包括光源,CCD,图像采集卡等硬件设施,以及专用的芯片处理检测算法。文章详细介绍了基于图像处理的晶片专用检测系统的搭建,分析了图像检测要求,提出了相应的检测算法。系统地完成图像采集、图像预处理、芯片定位、芯片检测等多个功能。 相似文献
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基于点检模型的煤矿生产设备管理信息平台的研究 总被引:2,自引:1,他引:1
文章简要说明了设备点检的作用及意义,介绍了基于点检模型的煤矿生产设备管理信息平台的体系结构,详细阐述了实现该平台所采用的主要技术及其各功能模块的设计。 相似文献