基于天线方向图的EMC场地确认研究

通过对天线增益、天线系数与天线方向图相关参数的公式推算及EMC场地确认测试考核实质的说明,定性地分析了天线方向图对两项场地确认指标——归一化场地衰减和场地电压驻波比的影响,并得出一些经验性的结论,作为理论分析及实际测试时理解和应用的辅助分析手段。     

电波暗室场地电压驻波比实测

CISPR16-1-4：2007 Ed2．0规定了1GHz以上采用场地电压驻波比法验证辐射骚扰测试场地的方法,北京无线电计量测试研究所已经依据该方法对某电波暗室进行了实际测试,指出了测试系统搭建过程中需要注意的问题,分析了测试数据。     

电波暗室场地驻波比测试方法及测试系统构建

介绍当前电磁兼容测试场地的种类及常见的评估测试,详细说明了一种新的电磁兼容电波暗室评估方法-场地驻波比测试法.并概述了在软硬件上如何构建一个场地驻波比测试系统.     

基于系统平均转换系数的全电波暗室系统确认

介绍了IEC 61000-4-22中采用的基于系统平均转换系数的全电波暗室测试系统的确认方法,并与CISPR 16-1-4所采用的自由空间归一化场地衰减及场地电压驻波比(site-VSWR)等场地确认的方法做了相应的对比分析。     

1～18 GHz辐射骚扰测试场地的场地电压驻波比验证方法

CISPR在2007年之前仅对1 GHz以下的频段的辐射骚扰测试进行了规定,而目前完整的CISPR标准规定了1 GHz以上的测试方法,并对测试场地提出了相应的要求.提出了一种用于验证测试场地的新方法(场地电压驻波比法).CISPR标准对用于场地验证的宽带全向天线有严格的要求,奥地利研究中心(ARC)开发出了一种具有较高精度的此类天线(已申请专利).     

5m法全电波暗室射频性能评测方法及影响因素分析

本文介绍了5m法全电波暗室的射频性能评测指标,并结合实际建设情况,分别阐述了归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）、场地均匀性（FU）和背景噪声这四项指标的校验和评估方法,并对评测过程中对结果造成影响的因素进行了分析。     

暗室吸波材料的进展与场地电压驻波比验证方法

介绍了EMC吸波材料技术的发展,其中包括泡沫角锥、中空泡沫角锥和复合性吸波材料等。阐述了1～18GHz的场地验证方法（场地电压驻波比法）,并重点讨论了如箔片吸波材料等新型吸波材料的应用。     

陶瓷型吸波尖劈在电波暗室中的应用

传统复合吸波材料存在低频特性差、与铁氧体阻抗匹配困难等问题。简述了一种全新的陶瓷型吸波尖劈工作原理,并列举了与铁氧体配合使用时的吸波损耗特性。总结了陶瓷型吸波尖劈的优势,并给出其在标准三米法暗室中的应用案例,检测结果显示归一化场地衰减优于±2.5 d B,场地电压驻波比小于5.0 d B。     

基于镜像射线跟踪法的电波暗室仿真设计

为提升暗室吸波工程的设计能力,运用镜像射线跟踪法对10 m 法电波暗室进行仿真设计,通过合理布置吸波材料,考虑一次反射和二次反射对静区的影响,计算了不同极化方式下静区的反射电平、归一化场地衰减和场均匀性。结果表明垂直极化和水平极化时,场地电压驻波比仿真与测试偏差小于2.3 dB;归一化场地衰减仿真与测试误差小于3 dB,场均匀性误差小于2 dB。仿真与测试结果吻合较好,各项指标均满足设计要求,验证了吸波材料布局的合理性及算法的可靠性。该仿真方法可应用于暗室静区性能评估,优化吸波材料布局,进而有效缩短设计周期。     

降低射频同轴电缆组件电压驻波比的方法

为解决由于射频同轴电缆组件电压驻波比大引起的放大器自激问题,对影响电缆组件电压驻波比的因素进行了分析。通过电缆组件电压驻波比的计算公式,阐述了电缆剥头尺寸和组件焊接方法在电缆组件装接过程中的重要性,提出了降低组件电压驻波比的方法。通过对电缆剥头尺寸、组件焊接和测试方法的改进,降低了驻波比。经实际测试和应用,组件满足使用要求,消除了自激现象。     

SVSWR测试中天线对有效测试区域的影响

介绍了CISPR 16-1-4：2007中SVSWR场地验证方法,分析接收天线的辐射特性,并针对高频率大尺寸被测设备的测试,结合不同天线在1 GHz、6 GHz、18 GHz频率下的E面和H面辐射特性,分析其在SVSWR测试中被测设备最大有效测试区域的影响,研究典型天线的适用性。     

半导体测试调度研究

半导体测试是资金高度密集、涉及产品种类与设备种类繁多的半导体生产环节.半导体测试需要同时使用测试机、送料机台和使能器等资源.资源组合及其可加工的产品类型的对应关系错综复杂,大多数半导体测试调度问题是考虑多资源约束和作业换型时间的平行机调度问题.分别从问题和方法两个角度对半导体测试调度研究进行分析,归纳了附加资源充足的测试调度和附加资源受限的测试调度两大类问题,并对目前半导体测试调度的各类方法进行总结对比,分析了各类方法的特点.     

不同光谱区域的生物光子分布的探测技术

设计了一种能在不同光谱区域测试生物系统超微弱光子辐射（UPE）的实验装置。测试了自300－1060nm内的不同光谱区域的UPE。测试数据可了解在宽光谱范围内的UPE光谱分布特性。测试结果表明，生物系统的UPE确定存在于自紫外－可见－红外的宽光谱范围中。     

MIL-STD-461F中拉杆天线试验布置变化对测量结果的影响

给出 MIL-STD-461F 中拉杆天线试验布置的变化,然后选取有代表性的4个样品进行试验来分析拉杆天线试验布置的变化对测量结果的影响。测量结果表明,在大约5 MHz 以上频段的多个频点,依据 F 版的测量布置得到的测量结果明显小于依据 D 版和 E 版的测量布置得到的结果。而对于5MHz 以下的频段,在某些频点上,依据 F 版的测量布置得到的测量结果明显大于依据 D 版和 E 版的测量布置得到的结果。     

路由器的测试

本文首先介绍了路由器测试的重要性与必要性、路由器测试的目的以及内容,然后介绍了抽象测试方法、测试内容、测试所使用的仪表、最后描述路由器测试中的一些问题。     

电磁兼容检测规约对传导骚扰测试的影响分析

根据电磁兼容检测的特点和内在要求,分析并阐述了电磁兼容检测的三个规约,即最大骚扰电压、正常工作状况和统计结论。使用最大骚扰电压这一规约的基本原理及要求,讨论了模拟手不同接入方式对传导骚扰检测结果的影响,给出一种低背景电磁噪声的人工模拟手走线方式。利用电磁兼容检测规约给出模拟手的一种阻抗模型,并结合三种不同样品的测试数据...     

移动终端MMS一致性测试研究

对移动终端MMS业务一致性测试进行了介绍,阐述了测试系统的架构以及具体的测试内容和方法,并对目前常见的测试问题进行了总结和分析。     

Go/No-Go Testing of VCO Modulation RF Transceivers Through the Delayed-RF Setup

The increasing share of test and packaging as a percentage of the overall cost for RF transceivers necessitate, radically test new approaches to both wafer-level and final production testing. We present a new system-level test setup for voltage-controlled oscillator (VCO) modulating transceiver architectures that we call the delayed-RF setup, along with a novel, all-digital design-for-testability (DFT) modification that enables coverage of the most important system-level specifications. The delayed-RF setup can be used during wafer sort, thus preventing the packaging of nonfunctional dies. Based on this setup and the DFT technique, we present an automatic test development methodology for FM transceivers using frequency-domain signature analysis. We develop two distinct pass/fail criteria based on eigensignatures and envelope signatures and a test generation algorithm that aims at minimizing the required delay while attaining full coverage of target faults. We develop a fault injection and simulation platform for a VCO-modulation, low-IF transceiver architecture using MATLAB and behavioral models including nonideal response. The proposed methodology enables the automation of the test generation process, thus reduces the test development time. Experimental results have shown a 90% reduction in the required delay thereby reducing the cost of this test hardware item     

软件结构测试自动化关键技术研究

基于自主开发的自动化白盒测试工具WBoxTool，本文对开发软件结构性测试自动化工具的一些关键技术进行了研究，重点研究了静态测试、插装技术和自动测试用例选择技术。并介绍了WBoxTbol的系统体系结构。分析和探讨了当前基于结构的软件测试中存在的问题和进一步的研究方向。     

GSM/TD-SCDMA系统间切换场景划分的探讨

本文针对目前TD-SCDMA系统向GSM系统切换中存在的参数设置问题,对切换场景进行了分类,并通过路测、KPI指标对比等方法,给出了不同切换场景下的切换参数设置建议.