混沌二相码的性能分析

混沌二相码由于其抗干扰能力和低截获性能,适宜作为雷达信号。Logistic序列是常见的用于产生二相码的混沌序列,其自相关函数旁瓣较低,但是带内功率谱波动较大、互相关函数峰值较高。针对这一问题,选取混沌特性较好的四种混沌序列产生二相码,从多个方面进行分析比较。仿真结果表明,利用Chebyshev映射得到的混沌调相信号在保持自相关函数旁瓣较低的条件下,可以获得更平坦的带内功率谱和更好的互相关性能。     

混沌二相编码的雷达脉冲压缩信号

二相编码信号是一种常用的雷达脉冲压缩信号,其相位编码是具有良好的自相关特性的二元伪随机序列。针对目前常用的伪随机编码的缺点,分析了混沌序列作为二相编码序列的可行性和优越性,并给出了混沌二相编码信号的生成方案。仿真实验证明,混沌二相编码信号具有良好的自相关特性和大时宽带宽积,是一种理想的雷达脉冲压缩信号。最后,提出了用Lyapunov指数作为准则优选混沌编码序列。     

时空混沌二相调制雷达与干扰一体化信号

减小电子战平台上雷达和干扰机体积、重量、功耗的有效途径是实现雷达和干扰机一体化，即使雷达和干扰机共享硬件平台，发射信号采用同时具有探测定位能力和干扰特性的一体化信号。提出了一种基于单向耦合映象格子构造时空混沌二相序列的方法，分析了时空混沌二相序列的伪随机性能，构造了时空混沌二相序列调制的．体化时空混沌二相编码信号，并分析了该信号的同有分辨能力和干扰性能。分析结果表明，时空混沌二相编码信号可以作为雷达与干扰机一体化信号，并且具有优良的固有分辨能力和遮盖下扰特性。     

混沌二相编码的雷达脉冲压缩信号

二相编码信号是一种常用的雷达脉冲压缩信号,其相位编码是具有良好的自相关特性的二元伪随机序列.针对目前常用的伪随机编码的缺点,分析了混沌序列作为二相编码序列的可行性和优越性,并给出了混沌二相编码信号的生成方案.仿真实验证明,混沌二相编码信号具有良好的自相关特性和大时宽带宽积,是一种理想的雷达脉冲压缩信号.最后,提出了用Lyapunov指数作为准则优选混沌编码序列.     

伪码调相连续波雷达模糊函数推导及仿真分析

分析了伪码调相连续波雷达的性能,研究了伪码调相连续波雷达的工作原理,重点推导了伪码调相连续波雷达的模糊甬数,进行了计算机仿真,并从13位Barker码调相信号仿真网和63位m序列调相信号仿真图的对比中得出了长码是伪码调相连续波雷达的最佳选择,而且为了实现更好的测距和测速的性能,必须在回波信号处理中加入旁瓣抑制电路,或选...     

遗传算法在二相码优化搜索中的应用

旁瓣抑制一直是雷达信号处理中的关键过程,本文提出了一种利用遗传算法优化搜索二相码M序列的方法。以遗传算法搜索出的序列组作为M序列产生器的初始序列,可以得到非周期自相关特性较好的伪随机序列。利用此方法产生的M序列作为调制信号得到的二相编码信号不需要加权就可获得较高的主副比,从而避免了加权引起的失配损失。     

基于Kent映射的混沌调频雷达波形设计

设计了一种基于Kent映射的混沌调频雷达波形,给出了如何通过Kent映射方程构造混沌调频雷达波形的方法,分析了其模糊函数特征及时频分布.理论分析与计算机仿真结果均表明,混沌调频波形是一种伪随机的雷达信号,具有“图钉型”模糊函数,具有很强的灵活性和反侦察性,具有更窄的压缩主瓣宽度与更低的副瓣电平.研究成果为雷达波形设计提供新的思路.     

一类混沌二相码序列信号的产生及性能分析

该文采用Wien电桥产生了基于双卷吸引子的混沌二相序列,通过PSPICE模拟及计算,分析了电路参数对混沌二相序列的随机分布及相关特性的影响。结果表明在参数选择适当情况下,该混沌二相序列的主要性能优于基于Logistic映射的二相序列,与Bernoulli序列相近,非常适于作为雷达波形。     

一种混合混沌序列的研究

针对单一混沌映射产生的序列复杂度比较低的缺点,提出一种新的混合混沌序列产生方法。该方法主要是通过组合不同的混沌映射并且扰动混沌映射中的参数来产生混沌序列。对产生的序列进行了平衡性、随机性和相关性等分析,并将该序列作为扩频码用于直接序列扩频系统中进行仿真。仿真结果表明,这种混合混沌序列有较好的平衡性、随机性和相关性,证明了该序列作为扩频码的可行性。     

相位编码体制雷达码型选择综合分析

对相位编码体制雷达信号中常用的几种二相编码进行了简要的性能分析;从工程实现的综合性能角度出发,对其中两种比较典型的编码——L序列码和随机序列码的自相关和互相关性进行仿真、分析、比较,提出在实际工程应用中最好选用随机序列码作为相位编码体制雷达的码元。     

激光在纳米粉体制备中的应用

分析了激光诱导化学气相沉积法和激光烧蚀法制备纳米粉体技术的特点、原理及其装置,阐述了激光法纳米粉体制备的影响因素,综述了激光技术在纳米粉体制备中的应用研究现状,展望了该项技术的发展前景。     

基于FPGA的内插定时恢复算法的实现

提出了一种基于FPGA的内插定时恢复算法的实现方法,重点分析了算法中的内插滤波器、定时误差检测器、环路滤波器和控制器等模块的原理。通过用Simulink对算法进行仿真,从而了解并掌握模块的工作过程,且对这四个模块进行FPGA的设计,在QuartusⅡ 9.1平台上对内插法中的各模块的设计进行了仿真。     

氩氧气氛下沉积的CdTe薄膜及太阳电池的性质

研究了在氩氧气氛下近空间升华沉积CdTe的技术．发展了在表面十分平整的玻璃衬底上沉积优质CdTe薄膜的方法,对比了在玻璃衬底和CdS薄膜上CdTe薄膜的结构特征．通过研究氧分压对CdTe薄膜择优取向的影响,证实了在恰当的近空间升华沉积过程中,两种衬底上的CdTe薄膜具有相同的结构．研究了玻璃衬底上CdTe薄膜的电学与光学性质,观察了后处理对上述薄膜性质的影响,并研制出了效率达1338%的小面积CdTe 薄膜太阳电池．     

芯片级电磁兼容性的设计方法及其应用

介绍了电磁兼容性的基本概念、原理及其在集成电路设计中的重要性,着重论述了芯片级电磁兼容性的设计方法,最后给出了芯片级电磁兼容性研究中存在的问题及未来的研究重点.     

芯片级电磁兼容性的设计

介绍了电磁兼容性的基本概念、原理及其在集成电路设计中的重要性 ,对电磁兼容性设计的基本方法作了介绍 ,其中着重论述了芯片级电磁兼容性的设计方法。最后给出了芯片级电磁兼容性研究中存在的问题及未来的研究重点     

Amplitude, width, and interarrival distributions for noise impulseson intrabuilding power line communication networks

Estimates are presented of probability distributions for the amplitude, width, and interarrival time of noise impulses. These estimates are based on measurements in both industrial and residential buildings and usefully complement the noise spectral density estimates of others. The results are based on measurements with and without specific electrical loads on the 120-V power line network. All measurements are between line and neutral conductors. The harmful effects of power line impulse noise on digital communications are indicated. Some suggestions for combatting these effects are presented, based on the impulse noise measurement results     

运营商富通信终端技术及应用研究

富通信技术凭借其增强型的通信体验以及社区交互等特点,结合智能终端本身提供的能力,大大丰富了在智能终端上实现的应用,并为运营商提供了融合发展的某种契机。本文从富通信技术角度出发,描述了在智能终端上实现富通信的业务场景,分析了智能终端实现富通信的关键技术以及富通信功能植入对终端的要求,基于此提出了运营商实现富通信的发展策略,并展望其后续发展。     

数字储频技术发展刍议

描述了数字射频存储器（DRFM）的结构和工作原理,分析了数字储频技术在电子干扰方面的优点和影响数字射频存储干扰效果的几个参数,重点研究了数字储频技术和雷达反数字储频干扰的发展趋势,为DRFM干扰及反干扰的进一步研究应用提供了理论基础。     

基于TMD材料的CMOS反相器电路研究现状

对目前基于过渡金属硫族化合物(TMD)材料(MoS₂、WSe₂等)的互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器电路相关研究进行了综述。总结了TMD材料的物理性质、制备方法和基于TMD的场效应晶体管器件的研究进展。对基于TMD的集成电路技术研究进行了介绍与分析。分别在结构设计、集成工艺、性能优化及电路集成等方面对基于TMD材料的CMOS反相器电路进行了总结与分析。介绍了两种集成结构及对应的工艺流程,详细分析了CMOS反相器电路性能优化的方法。最后指出了目前的关键挑战及未来的发展趋势。     

基于板级电路加速退化数据的可靠性分析

基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题。对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验．监测到输出电压随温度变化的退化过程。由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断。