质量控制图在电器安全检测中的应用分析

以接地电阻测试为例,介绍适用于计量型数据的平均值-极差/标准偏差控制图(x-R/s control chart)和单值移动极差控制图(x-MR control chart)的制作方法,用以判断电器安全检测结果的有效性及变异趋势。     

单值-移动极差质控图在EMC中的应用

通过实验得到电磁兼容(EMC)中的传导骚扰测试数据,在相邻两次校准周期内,编制单值(X)-移动极差(RS)质量控制图,可及时识别系统存在的失控风险,并进行误差分析。     

负片全板电镀表面铜厚极差和蚀刻量关系研究

负片表铜极差和铜厚过大,线路补偿不足,极易造成线路蚀刻不净及线幼,严重影响品质。文章通过探讨不同电镀时间、不同板尺寸时的电镀极差及不同铜厚时的蚀刻量的关系,从而找出不同线宽线距板生产和设计控制方法,减少上述品质风险。     

一种基于属性邻接矩阵和博弈理论的风险控制模型

为了网络安全管理员能够在有限的资源条件下及时加固关键节点,减少网络攻击带来的损失,设计一种基于属性邻接矩阵和博弈理论的风险控制模型。该模型利用BFS攻击图简化算法删减攻击图中出现的环路和冗余节点,将简化后的攻击图转化为属性邻接矩阵,最后利用博弈理论得出可能的攻击路径和最优防御策略。实验结果表明,与传统风险控制方法相比,该模型解决了顶点和边数过多导致图结构过于复杂的问题,更具可视性地得出了攻击路径和原子攻击序列,可为信息系统管理员提供科学的理论参考。     

封装工艺中SPC控制限计算方法的优化

文章简述了封装工艺中SPC的运用。介绍了SPC控制图的分类：用于连续型数据的控制图和用于计数型数据的控制图。介绍了封装工艺中最典型的均值一极差控制图的应用。针对均值控制图,文章论述和对比了三种不同的SPC控制限的计算方法：使用控制限系数A2,使用控制限系数d2和子组均值移动极差法,并用实例验证了最佳计算方法。结论中讨论了最佳计算方法在其他控制图中的适用性。     

UML中的类与类图的认识及使用

UML在系统分析与设计中得到广泛的应用.在UML的九种图中,类图是逻辑视图的重要组成部分,用于对系统的静态结构建模,是最重要、使用最普遍的图之一.文章主要说明类与类图的特点及不同阶段类图的使用.     

大面积密集通孔区域镀铜厚度提升研究

随着电子产品计算性能的极大提高,任意互联结构中越来越多的PCB设计了面积更大、更密集的BGA区域以实现更好的散热性能及电性能,由此带来core层X形通孔的密度显著增大。而PCB上密集通孔区域与孤立通孔区域的同时存在,导致采用常规电镀方式时密集孔区域与孤立孔区域的铜厚极差较大。本文经过特性要因分析后通过降低水平闪镀后的铜厚极差、提升水平填孔电镀的均匀性、优化电流密度和泵频率、优化密集孔孔径、研究不同电镀设备的极差改善效果,获得了切实可行的方法将100μm介厚密集通孔板的镀铜极差从14.30μm降低至6.83μm,满足了客户要求。     

嵌套控制图在微波件腔体生产中的应用

此文在介绍嵌套控制图概念和基本原理的基础上,结合微波件腔体生产加工过程实际,分析了嵌套控制图在微波件腔体加工过程中的应用情况。结果表明,正确选用控制图在生产过程统计受控状态分析中起着重要的作用。     

嵌套参数控制图技术

嵌套参数控制图技术是适用于微电路生产的新型控制图技术之一。在介绍Ｘ－Ｓ控制图的基础上详尽叙述了嵌套参数控制图的原理、控制方法和应用情况。     

基于Facet模型与方向相对极差的红外小目标检测方法

在对Facet模型的方向导数特征进行研究的基础上,针对红外弱小目标提出了一种利用局部方向相对极差计算显著性的方法,以快速有效地提取复杂背景下的红外弱小目标。基于弱小目标单帧检测理论,首先计算原始图像的Facet方向导数特征,然后在Facet方向导数特征图的局部内,沿着导数方向计算相对极差对比度显著图。通过对各个方向上的相对极差对比度显著图进行融合得到最终的显著性图像。最后,采用适当的阈值分割从该图像中提取目标。实验结果表明,本文算法对复杂红外弱小目标图像具有很高的信杂比增益和背景抑制因子。另外,该算法的计算复杂度低且可利用二维卷积加速计算,具有良好的算法实时性,适用于各种处理器平台的工程实现。     

基于Bayes分析的测量仪器的测量过程控制

在两次计量校准间隔期内,采用测量过程控制方法保证测量仪器的精度.针对传统Shewhart控制图方法在统计分析中容易出现“误发警报“错误的问题,提出一种基于Bayes分析的控制图方法,并进行了实验验证.Bayes分析充分利用先验信息,进行分布的参数估计,从而优化控制限.实验表明,与传统的Shewhart控制图相比,改进后的控制图控制限变宽,降低了“误发警报“错误的概率,适合用于小样本核查数据的统计分析.     

用CSS技术实现成绩统计图表

在学校类网站中有时会用到成绩统计图表,外形类似于EXCEL中的条状图。这种图表一般都是用图形处理软件制作好后再插入到网页当中,所以图表都是固定的、一次性的,下次考试后的图表必须重新制作,使用起来比较烦琐、死板。随着CSS技术在网站中越来越多的应用,我们发现使用它也可以制作灵活美观的图表。CSS2.0中,可以使用百分比来定义对象的高度和宽度,利用这一特性,我们可以很方便地借用一个容器的高度或宽度来形象地表现一个数值。以这种原理制作的图表数据是可变的,改变对象的高度或宽度参数值就相当于改变了它所代表的数据,而无须重新制作图片,减少了网页设计师的工作量。     

均匀分布地杂波中检测目标的统计分析

简要叙述了常规雷达在高斯噪声环境下检测目标时的发现概率、虚警概率和信噪比的关系，并在此基础上，结合目前很多雷达采用杂波单元平均法进行目标检测的情况，分析了均匀分布杂渡的统计特性，得出了在杂波分量远大于噪声分量的检测过程中发现概率、虚警概率和信杂比三者的关系。对于常规雷达的检测理论，这是一个新的补充。     

OSSO和OSGO恒虚警检测器在Pareto分布混响背景下的性能分析

Pareto分布是一种重要的非高斯分布,被证明能够有效描述高分辨率主动声纳的混响统计特性。文章分析了有序统计选小(Ordered Statistic with Smallest Option, OSSO)和有序统计选大(Ordered Statistic with Greatest Option, OSGO)两种恒虚警(Constant Fales Alarm Rate, CFAR)检测器在Pareto分布混响背景下的性能。在尺度参数已知情况下,证明了OSSO-CFAR和OSGO-CFAR对形状参数具有恒虚警的特性。进一步分析了两种检测器在均匀Pareto混响背景、多目标干扰及混响边缘情况下的性能,并与有序统计(Ordered Statistic, OS)CFAR进行了对比。结果表明,在均匀混响背景下,OSGO-CFAR的检测性能与OS-CFAR相近,在混响边缘情况下具有最好的虚警控制能力;而对于多目标干扰情况,OSSO-CFAR比其他两种检测器的检测性能更优。      

应用图像融合与多样性的舰船显著性检测

基于单源的图像显著性检测存在较大的虚警或漏检,文章提出了利用约简后的特征点和CPD算法对海面实拍船只图像进行多源图像匹配,获得图像间的变换投影方程并利用投影方程对单源图像的显著性检测结果进行叠加与虚警控制器分类,从而达到提高检测率与控制虚警的目的。显著性检测方面,文章分析了基于图等级多样性的显著性检测方法的不足和优点,引入了最大稳定区域检测方法对图像做前期处理,并对获得区域进行联合获得新区域,使得新区域能够最大限度地满足基于图的等级多样性显著性检测最优条件。对于检测获得的联合区域目标显著性不完整的情况,利用了区域的叠加性进行加权求和,最终获得了具有较好联通性的多舰船目标图像显著性检测结果。对于显著性检测结果中存在较大虚警的情况,文章进一步提出计算船只与浪花的多尺度分形维数,并结合Adaboost算法训练浪花虚警控制器。实验结果显示控制器能够消除一部分浪花带来的虚警,但是对于灰度与舰船极为相似的虚警无法消除。     

降低误报的三鉴智能探测器的硬件和软件设计

针对红外探测误报的问题,引入微波探测技术和单片机构成三鉴智能探测器。首先介绍三鉴智能探测器的基本原理结构,紧接着又给出被动红外信号调理电路和微波信号调理电路,然后介绍使用单片机实现探测器智能化的流程图。通过硬件电路设计和软件流程的实现并实施实验,验证了利用单片机实现智能化的可行性,并进一步降低了探测器的误报。     

一种抑制脉冲激光测距机低温虚警的方法

阐述了一种实用型抑制脉冲激光测距机低温虚警的方法,重点用于解决脉冲激光测距机在研制过程中,常温和高温都能够满足虚警率指标,而低温时虚警率工作超标的问题。通过产生虚警的原因分析,在雪崩二极管噪声闭环偏置控制回路中,增加了门限控制及噪声检测电路,通过单片机对闭环噪声控制回路的参数进行实时调节,使低温虚警得到有效抑制,能够满足系统指标要求。     

一种用FLEX10K器件设计的恒虚警电路

恒虚警率处理是雷达信号处理的重要组成部分。文中介绍了一种对数平均且选大恒虚警电路的结构 ,给出了用单片可编程逻辑器件(CPLD)—FLEX10K设计该电路的方法 ,详细地叙述了电路各组模块以及工作过程     

量化秩非参数CFAR检测器在杂波边缘中的性能分析

人们常用均匀背景、多目标和杂波边缘3种典型背景来衡量雷达目标检测器的性能,但在现有文献中缺乏量化秩（Rank Quantization,RQ）非参数检测器在杂波边缘中虚警概率的理论模型,缺乏RQ非参数检测器与经典的参量型检测器在杂波边缘中虚警控制能力的比较.本文给出了RQ检测器在杂波边缘中虚警概率的解析表达式,并比较了它与非相干积累CA （Cell Averaging）,GO （Greatest Of）,OS （Ordered Statistic）恒虚警方法在杂波边缘中的虚警控制能力.可以看出,采用高秩量化门限的RQ检测器的虚警控制能力要优于低秩量化门限的情况,在瑞利分布杂波边缘情况下,RQ检测器的虚警控制能力与非相干积累OS方法接近.但是当强杂波变为长拖尾分布的非高斯杂波时,非相干积累CA,GO和OS参量型检测方法的虚警概率产生了3个数量级以上的上升,且不能降回到原始设定的虚警概率.而RQ检测器显示出了非参量检测器的优势,即当杂波背景的分布类型发生变化后,它仍然可以保持虚警概率的恒定.