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相似文献
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1.
刘安生  邵贝羚  安生 《电子学报》1999,27(11):12-14
采用定位的横断面透射电子显微术观察P^+-Si0.65Ge0.35/p-Si异质结内光发射红外探测器的微结构。该器件光敏区由6层P+-Si0.65Ge0.36和5层UD-Si层组成,每层都比较平整,各层厚度分别为6nm和32nm,在Si0.65Ge0.35/UD-Si界面处存在应力场,但未到晶体缺陷,非晶SiO2台阶上的Si0.65Ge0.35和UD-Si层是波浪状的多晶层,光敏区的边界处存在小于  相似文献   

2.
退火条件对β—FeSi_2形成的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文采用反应沉积-团相外延法制备β-FeSi2溥膜.不同温度及持续时间的后退火处理的X射线衍射分析表明降低衬底温度,延长退火时间可以提高样品晶体质量.利用卢瑟福背散射方法研究了β-FeSi2的形成过程中的Si的扩散。探讨了退火形成β-FeSi2的形成机制.  相似文献   

3.
对1.3μm和1.55μm波长的Si1-xGex波长信号分离器(WSD)和Si1-xGex/Si应变超晶格(SLS)红外探测器的集成结构进行了系统的分析和优化设计.优化结果为:(1)对Si1-xGexWSD,Ge含量x=0.05.波导的脊高和腐蚀深度分别为3μm和2.6μm.对应于λ1=1.3μm和λ2=1.55μm波长的波导脊宽分别为11μm和8.5μm.(2)对Si1-xGex/SiSLS探测器,Ge含量x=0.5.探测器的厚度为550nm,由23个周期的6nmSi0.5Ge0.5+17nmSi组成.  相似文献   

4.
本文论述了在制备高矫顽力的Sm2Fe17Nx磁粉过程中,HDDR工艺的应用。研究SmFe17的氧化歧化行为,在600℃-1100℃氢化处理畴,Sm2Fe17相分解为α-Fe和Sm化合物,随后热处理真家脱氢,蜂窝状2m2Fe17相直径大绚50-500nm,经775。HDDR工序处理和氢化Sm2Fe17粉8.7KOe高的矫顽力。  相似文献   

5.
本文用扩散的方法,在HZSM-5和Y沸石中制备了具有不同Se组分的Se链样品,并对样品进行了吸收和喇曼光谱测试.结果表明:制备的样品均为非晶Se链结构,随制备条件的不同,非晶Se链的混乱度有所不同.  相似文献   

6.
作者首次用X射线双晶衍射技术对注入As+的Si0.57Ge0.43合金的晶格损伤消除和应变弛豫进行了研究,并与未注入AS+的Si0.57Ge0.43合金的应变弛豫进行了比较.结果表明,退火后,注入AS_的Si1-xGex外延层中的应变分布不同于未注入AS+的应变分布.对于未注入As+的Si0.57Ge0.43样品,其X射线衍射峰的半宽度FWHM由于退火引起应变弛豫导致镶嵌结构的产生而展宽.对于注入As+的Si0.57Ge0.43样品,950℃的快速退火过程可以有效地消除晶格损伤,使晶格得以恢复,且其退火后的  相似文献   

7.
本文采用固相外延法在SIMOX衬底上生长了β-FeSi2薄膜,采用X射线衍射(XRD),卢瑟辐背散射(RBS)以及自动扩展电阻测量研究了样品的多层结构,Raman谱表征说明它与直接在硅片上生长的薄膜具有类似的晶格振动特性.  相似文献   

8.
纳米硅薄膜结构特性研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
在电容式耦合等离子体化学气相沉积系统中,使用高氢稀释硅烷为反应气体制备出了晶粒尺寸为2~10nm的纳米微晶相结构的硅薄膜,使用高分辨电子显微镜(HREM),X射线衍射谱(XRD),X射线光电子能谱(XPS)和红外光谱(IR)等结构分析手段检测了其结构特征.结果表明,纳米硅薄膜的晶格结构为畸变的金刚石结构.X射线衍射谱表明除了Si(111)的2θ=28.5°和Si(220)的2θ=47.3°处的衍射峰外,在2θ=32.5°处存在着一个强的异常峰.HREM结果表明存在新的Si结晶学结构与XRD异常峰相关联.  相似文献   

9.
Hzsm—5和Y沸石中Se链的吸收和喇曼光谱   总被引:1,自引:0,他引:1  
林兆军  王占国 《半导体学报》1996,17(12):936-939
本文用扩散的方法,在HZSM-5和Y沸石中制备了具有不同Se组分的Se链样品,并对样品进行了吸收和喇曼光谱测试。结果表明,制备的样品均为非晶Se链结构,随制备条件的不同,非晶Se链的混乱度有所不同。  相似文献   

10.
Au掺杂TiO2/SiO2薄膜的光学非线性特性研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用溶胶-凝胶方法制备了Au掺杂的TiO2/SiO2复合薄膜(厚度约为1.0μm)。X-ray衍射分析表明,Au的颗粒镶嵌在TiO2/SiO2复合薄膜的玻璃网络中。谢乐公式计算给出Au的颗粒大小约为10nm。采用Z-Scan测量技术得此薄膜的光学非线性折射率为1.09×10-7esu。  相似文献   

11.
表面贴装工艺(SMT),其趋势和未来   总被引:8,自引:0,他引:8  
徐大林 《电子器件》1999,22(2):104-109
表面贴装工艺(SMT)是一种当今制造生产先进水平微小型电子产品的工艺技术,本文首先介绍SMT,然后着重阐述表面贴装的种类及工艺流程,所需设备,SMT中的技术问题,最后就SMT的趋势和它的未来进行探讨。  相似文献   

12.
图像小波系数的分布规律及其对图像质量的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
文中研究了小波系数的统计特性,小波系数的均值、方差和能量,不同分辨率级相同方向上小小的关系,以及同一分辨率级不同方向的小波系数对图像主观质量的影响。从而为基于小波变换的图像数据压缩中的量化方法提供了依据,得到以下结论:1.能量主要集中在低频系数,它对图像质量的影响最大,应对其进行量化;2.高频系数代表图像的细节信息,分辨率级越高的高频系数,对图像质量的影响越小,量化可以越粗;3.对同一方向不同分辨  相似文献   

13.
利用扫描电镜的选区电子通道花样技术研究了用ELID磨削技术制作的两种单晶硅片磨削样品的表面变质层的厚度及其结构。结果表明,表面粗糙度依次为9.5nm和22.5nm两种〈111〉单晶硅片样品的变质层厚度分别为2.8μm和4.8μm。  相似文献   

14.
NitrogenDopingEfectinaGe:HFilmsDueToHighHydrogenDilutionJ.Xu1K.J.Chen1D.Feng1,SeichiMiyazaki2MasatakaHirose2(1.Dept.ofPhysic...  相似文献   

15.
掺铒光纤放大器特性分析及长度优化设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
掺饵光纤放大器(EDFA)是光纤通信系统中的关键器件之一。文中从EDFA的基本理论出发,对EDFA的各种特性进行了计算机模拟分析,并研究了EDFA的长度优化设计,实验结果与理论计算相吻合。  相似文献   

16.
飞行器尾焰红外辐射的一种工程算法   总被引:3,自引:2,他引:1  
文中就尾焰在4.3μm谱带对红外辐射有贡献的二氧化碳气体进行研究,将分子辐射理论中的宽带模型与辐射输运方程和流场模型三者结合起来,是研究飞行器尾焰红外辐射特性的有效办法,它在红外寻的、红外防护中有实用价值。  相似文献   

17.
多元多色HgCdTe红外探测器   总被引:2,自引:2,他引:0  
简要介绍利用不同波段的微型滤光片和不同响应波段的多元HgCdTe红外探测器,叙述了通过精密镶嵌技术组合而成的四波段215~225μm、84~89μm、103~113μm和115~125μm88元多元多色探测器的设计原理和特性,以及多元多色探测器的组合工艺,并给出了各个通道的响应光谱特性和探测器的工作性能。研制成功的88元多色红外探测器每个通道的平均探测率和响应率分别为:D2.15~2.25=1.2×1012cmHz1/2/W和R2.15~2.25=5.0×106V/W,D8.4~8.9=7.0×1010cmHz1/2/W和R8.4~8.9=1.6×104V/W,D10.3~11.3=4.0×1010cmHz1/2/W和R10.3~11.3=4.3×103V/W,D11.5~12.5=3.0×1010cmHz1/2/W和R11.5~12.5=3.3×103V/W,文中对这些结果进行了分析和讨论。  相似文献   

18.
基于弧长参数的曲线自适应平滑算法   总被引:3,自引:0,他引:3  
文中针对空间曲线平滑这个图像理解与模式识别中的基本问题,在分析现有主要曲线平滑算法(如Douglass-Peucker方法和固定窗口平滑算法)不足之处的基础上,利用信号平滑滤波的基本概念,基于曲线的参数方程和方向链玛的原理,提出了一种基于Freeman链码和以弧长为参数的离散空间曲线的自适应平滑算法。该算法首先将空间曲线沿弧长方向进行分解;然后在分解后曲线的各个部分中,利用Freeman链码计算平  相似文献   

19.
本文和电子显微研究了9Ni钢中马氏体孪晶界面精细结构,结果表明,马氏体孪晶不是平直的孪生面(112),而是由一系列以享生面(112)为平台的小平面组成的台阶状或凹凸不平的界面。小平面大多沿「110」方向形成,沿「111」方向较少形成。  相似文献   

20.
便携式红外靶标发生器的研制   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一种适用于工作现状及技术阵地快速检测热成像装置MRTD的便携式红外装置,它由红外光学系统,靶标,面源黑体,温控装置及显示装置组成。靶标和面源黑体组成的温差源通过红外光学系统成像到远限远,模拟无限远目标,供给热成像装置接收。光学系统采用摄远物镜结构实现便携要求,靶标及面源黑体的温度采用温控仪探测,由Z80单片机进行对温控仪的数据采集处理和显示,并通过一定方法的温控过程保证靶标与面源黑体之间温差  相似文献   

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