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体外缺血/再灌注神经元DNA损伤的初步研究
作者姓名:Luo YM  Qin Z  Chen J
作者单位:1. 复旦大学神经病学研究所,上海,200040
2. 美国匹兹堡大学医学院神经科,15213
摘    要:目的和方法:应用胎鼠皮层细胞原代培养,建立神经元的体外“缺血/再灌注”模型,观察神经元缺血/再灌注后DNA链的损伤。应用PANT和TUNEL染色分别检测缺血/再灌注后DNA单链和双链损伤。结果:神经元缺糖缺氧2h引起极少量细胞死亡,4h引起少于30%的细胞死亡,而6-8h的缺糖缺氧引起的细胞死亡数量达到80%以上,6h缺糖缺氧再灌注10-18h,细胞死亡达高峰,而在8h缺糖缺氧再灌注2h细胞死亡已经达高峰。在缺糖缺氧2,4,6,8h灌注5min,PANT阳性细胞分别达30%,50%,80%,90%。而在同样的情况下,TUNEL染色阳性细胞数没有明显增加。结论:体外神经元缺糖缺氧再灌注早期即出现DNA链的损伤,且以单链损伤为主。

关 键 词:缺糖缺氧  体外培养  缺血  再灌注  神经元  DNA损伤
文章编号:1000-6834(2002)02-0117-04
修稿时间:2001年2月26日

Study of DNA damage with neuronal ischemia/reperfusion in vitro
Luo YM,Qin Z,Chen J.Study of DNA damage with neuronal ischemia/reperfusion in vitro[J].Chinese Journal of Applied Physiology,2002,18(2):117-120.
Authors:Luo Yu-Min  Qin Zhen  Chen Jun
Affiliation:Department of Neurology, Huashan Hospital of Shanghai Medical University, Shanghai 200040, China.
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 PubMed 等数据库收录!
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