重复单元结构对聚酰亚胺薄膜力学和介电性能的影响 |
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作者姓名: | 李鸿韬 于淑会 孙蓉 |
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作者单位: | 中国科学院深圳先进技术研究院,深圳先进电子材料国际创新研究院,广东 深圳 518055;中国科学院大学,北京 100864;中国科学院深圳先进技术研究院,深圳先进电子材料国际创新研究院,广东 深圳 518055 |
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摘 要: | 以两种不同二胺、二酐单体为原料,通过两步法制备了4种聚酰亚胺薄膜,研究了不同重复单元结构对聚酰亚胺薄膜性能的影响。结果表明:相比含二苯酮基的聚酰亚胺薄膜,含三氟甲基的聚酰亚胺薄膜具有更低的介电常数,同时保持较高的拉伸强度。其中由4,4′-二氨基-2,2′-双三氟甲基联苯(TFMB)与4,4′-联苯醚二酐(ODPA)聚合得到的聚酰亚胺薄膜介电常数最低,热分解温度高于550℃,拉伸强度为81.9 MPa,综合性能良好。
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关 键 词: | 聚酰亚胺 结构 介电常数 拉伸强度 |
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