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基于单片机的不良导体热导率的测定
引用本文:李建设,柳闻鹃. 基于单片机的不良导体热导率的测定[J]. 中国包装工业, 2002, 97(7): 87-89
作者姓名:李建设  柳闻鹃
作者单位:株洲工学院计算机系株洲工学院基础课膊
摘    要:介绍了在稳态法测不良导体热导率中,基于单片机系统进行数据采集、显示、存贮及温度控制的方法。

关 键 词:测定 单片机 不良导体 热导率 稳态法 硬件 软件

The Application of the Single-chip-Computer in Measuring
Abstract:
Keywords:
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