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| FIA—ICP—AES联用技术在高纯试剂痕量杂质分析中的应用 | |
| 引用本文： | 陈浩,孔令英.FIA—ICP—AES联用技术在高纯试剂痕量杂质分析中的应用[J].分析仪器,1993(4):42-45. |
| 作者姓名： | 陈浩 孔令英 |
| 作者单位： | 武汉大学化学系，武汉大学化学系，武汉大学化学系，武汉大学分析测试中心 武汉 430072，武汉 430072，武汉 430072，武汉 430072 |
| 摘 要： | 提出了用ＦＩＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ测定高纯试剂中痕量杂质的方法。研究了传输管长度、进样体积、曝光时间、基体和酸度等因素对灵敏度的影响；对ＦＩＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ与ＣＰＮ－ＩＣＰ－ＡＥＳ的分析结果进行了比较。该技术已较成功地用于高纯Ｙ２Ｏ３中１４种稀土杂质和高纯ＮａＣｌ的Ｆｅ、Ｃｒ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｃａ、Ｃｕ、Ｚｎ的测定。 |
| 关 键 词： | 流动注射分析 高纯试剂 痕量杂质 |
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