| MgxZn1-xO薄膜的红外光谱及其表面浸润性 |
| |
| 作者姓名： | 王存勇 尚凤娇 王峰 周智涛 刘昌龙 龚万兵 訾振发 吕建国 刘峰 黄凯 |
| |
| 作者单位： | 合肥师范学院电子信息工程学院;中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室;安徽工程大学数理学院;安徽建筑工业学院数理系 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(Nos.51002156,51102072);中国博士后基金项目(No.2012M520944);安徽省自然科学基金项目(Nos.1208085MF99,1208085QA16);上海市博士后基金项目(No.12R21416800);安徽高校省级自然科学研究项目(No.KJ2010B148) |
| |
| 摘 要： | 采用溶胶-凝胶法制备MgxZn1-xO薄膜,利用X射线衍射仪、原子力显微镜、傅里叶变换红外光谱仪和荧光光谱仪等测试分析薄膜的微结构、表面形貌、红外光谱和光致发光特性等,研究结果表明,薄膜中的Zn O成分均呈六角纤锌矿结构,当x=0.15时,薄膜中有Mg O成分析出;随着x从0增大到0.15,均方根粗糙度不断减小;1038 cm-1附近的吸收峰对应于Si-O-Si的对称和反对称伸缩振动模,408 cm-1附近的吸收峰对应于六角结构Zn O的Zn-O振动模,900 cm-1附近的吸收峰则对应于SiO键伸缩振动模,该吸收峰强度的减弱说明薄膜中Si-O键数目减少。近带边发射峰位由410 nm蓝移到370 nm与薄膜导带底或价带顶的局域能级、薄膜禁带宽度变化等因素有关,可见光发射带是单离子氧空位(VO+)和氧填隙(Oi)等薄膜本征缺陷相互竞争的结果。用接触角测试仪测试薄膜的表面接触角,研究Mg含量对薄膜的表面浸润性及其光诱导可逆转变的影响,并探讨其形成机理。
|
| 关 键 词： | MgxZn1-xO薄膜 表面形貌 红外光谱 表面浸润性 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
|
