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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
电力设备中FPGA单粒子效应研究
作者姓名:
黄家俊
霍银龙
陈从靖
臧佳
作者单位:
南京国电南自电网自动化有限公司
摘 要:
FPGA在电力设备中大规模应用后,其长时间运行的可靠性一直受到单粒子效应的影响。宇宙射线中的高能粒子穿过大气层后,会在FPGA芯片中造成单粒子翻转、单粒子锁存等故障。针对以上现象,分析了单粒子效应的形成机理及影响因素,计算了常用FPGA芯片的单粒子翻转故障概率。以需要长时间稳定运行的电力设备为对象,提出了芯片防护、系统防护、逻辑备份、数据校验、硬件检测等缓解方法。结果表明,这些措施可以有效减少FPGA中因单粒子效应而产生的故障。
关 键 词:
电力设备
单粒子效应
单粒子翻转
单粒子锁存
FPGA
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