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GaAs MBE生长过程中的RHEED强度振荡
引用本文:陆泳,陆飞,李爱珍.GaAs MBE生长过程中的RHEED强度振荡[J].微纳电子技术,1991(6).
作者姓名:陆泳  陆飞  李爱珍
作者单位:中国科学院上海冶金所 上海 200050
摘    要:本文报道了用RHEED强度振荡方法来测定GaAs,Al_xGa_(1-x)As生长速度及Al组分,并初步讨论了产生RHEED强度振荡的机制及其与生长条件的关系。

关 键 词:砷化镓  分子束外延  测量  振荡
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