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一种罐壁涂层自动测厚仪的单片机测控系统
引用本文:王义杰,曾明,等.一种罐壁涂层自动测厚仪的单片机测控系统[J].自动化技术与应用,1994,13(4):32-34.
作者姓名:王义杰  曾明
作者单位:哈尔滨科技大学 (王义杰,曾明,王书铨),哈尔滨科技大学(宫海)
摘    要:介绍了以MCS—8098单片机为核心的一种壁面涂层检测及壁面爬行自控车的控制系统的功能、硬件配置和软件开发.

关 键 词:涂层  单片机  测控
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