| VLSIC的可靠性测试探讨 |
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| 引用本文： | 李青龙. VLSIC的可靠性测试探讨[J]. 常州工学院学报, 2006, 19(2): 16-17,26 |
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| 作者姓名： | 李青龙 |
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| 作者单位： | 常州工学院电子信息与电气工程学院,江苏,常州,213002 |
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| 摘 要： | 针对超大规模集成电路(VLSIC)的可靠性测试问题进行了理论分析,叙述了VLSIC可靠性测试技术及特点,并对VLSIC可靠性测试的设计方法与改善进行了归纳总结。
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| 关 键 词： | VLSIC 可靠性 测试 |
| 文章编号： | 1671-0436（2006）02-0016-02 |
| 收稿时间： | 2006-03-06 |
| 修稿时间： | 2006-03-06 |
A Discussion on VLSIC Dependability Testing |
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| LI Qing-long. A Discussion on VLSIC Dependability Testing[J]. Journal of Changzhou Institute of Technology, 2006, 19(2): 16-17,26 |
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| Authors: | LI Qing-long |
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| Abstract: | This paper analyzes the problems on the dependability testing of VLSIC(Very Large Scale Integrated Circuit),and sums up the designing methods and the techniques of improving it.Based on this,it has important effects on VLSIC dependability testing improvement. |
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| Keywords: | VLSIC dependability testing |
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