| 静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统 |
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| 引用本文： | 于跃,郭旗,任迪远,李鹏伟.静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统[J].核电子学与探测技术,2010,30(3). |
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| 作者姓名： | 于跃 郭旗 任迪远 李鹏伟 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院研究生院,北京,100083;中科院新疆理化所,乌鲁木齐,830011
2. 中科院新疆理化所,乌鲁木齐,830011 |
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| 摘 要： | 研制了一套SRAM总剂量辐射效应在线测试系统,该系统可同时对多个SRAM器件进行总剂量辐照效应在线测试,获得在γ辐照环境中静态功耗电流和出错数随总剂量的变化关系。进行了实际的SRAM器件辐照试验,测量得到了不同批次参数辐射响应的差异,并分析SRAM静态功耗电流和出错数受γ辐照的损伤机理。
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| 关 键 词： | 测试系统 60Coγ总剂量 损伤机理 |
The Manufacture of System for Testing Static Random Access Memory Total Dose Radiation Effect |
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| YU Yue,GUO Qi,REN Di-yuan,LI Peng-wei.The Manufacture of System for Testing Static Random Access Memory Total Dose Radiation Effect[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2010,30(3). |
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| Authors: | YU Yue GUO Qi REN Di-yuan LI Peng-wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SRAM |
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