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X光CCD响应特性
引用本文:杨家敏,丁耀南,曹磊峰,丁永坤,王耀梅,张文海,郑志坚,崔明启,朱佩平,赵屹东,黎刚.X光CCD响应特性[J].强激光与粒子束,2000,12(5):565-568.
作者姓名:杨家敏  丁耀南  曹磊峰  丁永坤  王耀梅  张文海  郑志坚  崔明启  朱佩平  赵屹东  黎刚
作者单位:1. 中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川省绵阳919-216信箱,621900
2. 中国科学院北京高能物理研究所同步辐射实验室,北京918信箱,100039
基金项目:国家863惯性约束聚变领域及高温高密度等离子体物理重点实验室资助课题(99JS77.4.1zs7702)
摘    要:在北京同步辐射源上建立了X光CCD量子效率实验标定方法,获得了150eV~1500eV能区范围多个X光能点的量子效率实验结果,发展了X光CCD量子效率简化计算模型,并对X光CCD表面油沾污对量子效率的影响进行了实验研究和修正。

关 键 词:X光CCD  量子效率  实验标定  响应特性
修稿时间:2000-01-28

Study on Response of X-ray Charge Coupled Device to Soft-X-ray
YANGJia-min,DINGYao-nan,CAOLei-feng,DINGYong-kun,WANGYao-mei,ZHANGWeng-hai,ZHENGZhi-jian,CUIMing-qi,ZHUPei-ping,ZHAOYi-dong,LIGang.Study on Response of X-ray Charge Coupled Device to Soft-X-ray[J].High Power Laser and Particle Beams,2000,12(5):565-568.
Authors:YANGJia-min  DINGYao-nan  CAOLei-feng  DINGYong-kun  WANGYao-mei  ZHANGWeng-hai  ZHENGZhi-jian  CUIMing-qi  ZHUPei-ping  ZHAOYi-dong  LIGang
Abstract:Response of X-ray charge coupled device (CCD) to soft X rays were cali brated on Beijing Synchrotron Radiation Facility, and the experimental results h ave been obtained in photon energy range of 150eV to 1500eV. Then, a simple mode l was developed to simulate the calibrated results. The effect of CCD surface contamination on C CD response to X rays has also been investigated.
Keywords:X-r ay CCD  quantum efficiency  experimental calibration
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