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基于Ni/Ag/Pt的P型GaN欧姆接触
引用本文:马洪霞,韩彦军,申屠伟进,张贤鹏,罗毅,钱可元. 基于Ni/Ag/Pt的P型GaN欧姆接触[J]. 光电子.激光, 2006, 17(6): 650-653
作者姓名:马洪霞  韩彦军  申屠伟进  张贤鹏  罗毅  钱可元
作者单位:1. 清华大学电子工程系,集成光电子学国家重点实验室,北京,100084;清华大学深圳研究生院,广东,深圳,518057
2. 清华大学电子工程系,集成光电子学国家重点实验室,北京,100084
3. 清华大学深圳研究生院,广东,深圳,518057
基金项目:国家自然科学基金;国家重点基础研究发展计划(973计划);高比容电子铝箔的研究开发与应用项目;北京市科委科研项目
摘    要:提出了新型的Ni/Ag/Pt结构作为具有高光学反射率、低比接触电阻率(SCR)的p-GaN欧姆接触电极。在Ni/Ag/Pt厚度分别为3 nm/120 nm/2 nm的条件下,在500℃、O2气氛中退火3 min,获得了80%的光学反射率(460 nm处)和4.43×10-4Ω.cm2的SCR,样品的表面均方根(RMS)粗糙度约为8nm。俄歇电子能谱(AES)分析表明,Pt很好地改善了Ag基电极退火后的表面形貌,Ni、Ag对形成良好的欧姆接触起了重要的作用。

关 键 词:欧姆接触  俄歇电子能谱(AES)
文章编号:1005-0086(2006)06-0650-04
收稿时间:2005-09-20
修稿时间:2005-09-20

Ni/Ag/Pt Ohmic Contacts to P-type GaN
MA Hong-xi,HAN Yan-jun,SHENTU Wei-jin,ZHANG Xian-peng,LUO Yi,QIAN Ke-yuan. Ni/Ag/Pt Ohmic Contacts to P-type GaN[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2006, 17(6): 650-653
Authors:MA Hong-xi  HAN Yan-jun  SHENTU Wei-jin  ZHANG Xian-peng  LUO Yi  QIAN Ke-yuan
Abstract:
Keywords:GaN  Ni/Ag/Pt
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