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SiO_2对SnO_2·CoO·Nb_2O_5压敏电阻非线性电学性质的影响
引用本文:陈洪存,王矜奉,王勇军,李长鹏,张沛霖,钟维烈.SiO_2对SnO_2·CoO·Nb_2O_5压敏电阻非线性电学性质的影响[J].压电与声光,2000(6).
作者姓名:陈洪存  王矜奉  王勇军  李长鹏  张沛霖  钟维烈
作者单位:山东大学物理系!济南250100
基金项目:国家自然科学基金资助项目!(5 0 0 72 0 13)
摘    要:对 Si O2 掺杂的 Sn O2 · Co O· Nb2 O5 压敏电阻非线性电学性质进行了研究 ,并对其微观结构进行了电镜扫描 ,且对其晶界势垒高度进行了测量。实验表明 x(Si O2 ) =0 .3%掺杂的 Sn O2 · Co O· Nb2 O5 压敏电阻的非线性系数 α高达 30 ,并且具有最高的击穿电场 (375 V/ mm)。采用 Gupta- Carlson缺陷模型对晶界肖特基势垒高度随Si O2 的添加而变大的现象进行了理论解释。

关 键 词:压敏电阻  非线性系数  击穿电场强度  势垒
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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