| IEEE754标准浮点测试向量的生成 |
| |
| 引用本文： | 何立强.IEEE754标准浮点测试向量的生成[J].计算机工程,2004,30(19):38-39,64. |
| |
| 作者姓名： | 何立强 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所,北京,100080 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助 项目(69896250-1,69973046) |
| |
| 摘 要： | 介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法，讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率，并给出了对该方法的一些改进措施。
|
| 关 键 词： | IEEE754 测试 测试向量 差错覆盖率 浮点功能部件 |
| 文章编号： | 1000-3428(2004)19-0038-02 |
Generation of Test Suite for Floating-point Arithmetic Based on IEEE754 Standard |
| |
| HE Liqiang.Generation of Test Suite for Floating-point Arithmetic Based on IEEE754 Standard[J].Computer Engineering,2004,30(19):38-39,64. |
| |
| Authors: | HE Liqiang |
| |
| Abstract: | This paper proposes the test suites generating method for floating-point unit based on IEEE754 standard, discusses the fault coverage of the test suites. And it gives some improving measures for the method. |
| |
| Keywords: | IEEE754 Test Test suite Fault coverage Floating-point arithmetic unit |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
