首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

铝带箔同位素测厚仪技术开发
引用本文:孙新安.铝带箔同位素测厚仪技术开发[J].有色金属加工,2003,32(2):55-58.
作者姓名:孙新安
作者单位:洛阳有色金属加工设计研究院,河南,洛阳,471039
摘    要:本文主要介绍铝带箔同位素测厚仪的原理、硬件组成及软件编程。

关 键 词:同位素  铝带箔测厚仪  浮点数
文章编号:1671-6795(2003)02-0055-04

Development of Isotope Gaugemeter for Aluminum Strip and Foil
SUN Xin-an.Development of Isotope Gaugemeter for Aluminum Strip and Foil[J].Nonferrous Metals Processing,2003,32(2):55-58.
Authors:SUN Xin-an
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号