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低温烧结SrTiO3晶界层电容器材料的体深能级的研究
引用本文:李峥,王评初,徐保民,殷之文. 低温烧结SrTiO3晶界层电容器材料的体深能级的研究[J]. 无机材料学报, 1998, 13(2): 162-166
作者姓名:李峥  王评初  徐保民  殷之文
作者单位:中国科学院上海硅酸盐研究所!上海,200050,中国科学院上海硅酸盐研究所!上海,200050,中国科学院上海硅酸盐研究所!上海,200050,中国科学院上海硅酸盐研究所!上海,200050
基金项目:国家自然科学基金!59172102
摘    要:本文用导纳谱法测得低温一次烧结SrTiO3晶界层电容器材料的体深能级位于导带底下0.21eV处.提出了SrTiO3顺电行为和体深能级综合效应对材料介电性质的作用,解释了材料ε~T曲线上的异常“凸起”和显著的介电频散现象.根据给出的合体深能级的等效电路模型,计算机拟合结果与实验数据基本相符.

关 键 词:钛酸锶  晶界层电容器  介电性质  体深能级
收稿时间:1997-07-10

Study of Deep Bulk Traps of Low-Temperature-Sintered SrTiO3 GBBL Capacitors
LI Zheng,WANG Ping-Chu,XU Bac--Min,YIN Zhi-Wen. Study of Deep Bulk Traps of Low-Temperature-Sintered SrTiO3 GBBL Capacitors[J]. Journal of Inorganic Materials, 1998, 13(2): 162-166
Authors:LI Zheng  WANG Ping-Chu  XU Bac--Min  YIN Zhi-Wen
Affiliation:ShanghaiInstituteofCeramics;ChineseAcademyofSciencesShanghai200050China
Abstract:
Keywords:SrTiO_3   GBBL capacitor   dielectric constant   deep bulk trap
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