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基于CMOS工艺的高Q值集成电感设计
引用本文:裴晓敏,林艳丽.基于CMOS工艺的高Q值集成电感设计[J].微电子学,2013,43(1):107-110,114.
作者姓名:裴晓敏  林艳丽
作者单位:1. 襄樊学院物电学院,湖北襄阳,441053
2. 中芯国际集成电路制造有限公司,上海,201203
基金项目:湖北省教育厅科研计划资助重点项目(D20102026);襄樊学院科研项目资助(2010YA019)
摘    要:采用三维全波电磁场模拟软件HFSS作为分析工具,对八边形差分对称结构电感和单端结构电感进行对比研究,提出利用多层金属并联布线、渐变线宽和图案接地屏蔽(PGS)等结构与差分对称结构集成来提高片上电感性能的设计方案.此方案能与标准硅基CMOS工艺兼容.仿真结果表明,该方案能有效提高集成电感的Q值.

关 键 词:集成电感  品质因数  差分对称  渐变线宽  图案接地屏蔽

Design of CMOS Integrated Inductor with High Quality Factor
PEI Xiaomin,LIN Yanli.Design of CMOS Integrated Inductor with High Quality Factor[J].Microelectronics,2013,43(1):107-110,114.
Authors:PEI Xiaomin  LIN Yanli
Affiliation:1.School of Physics and Electronics,Xiangfan University,Xiangyang,Hubei 441053,P.R.China; 2.Semiconductor Manufacturing International Corp.,Shanghai 201203,P.R.China)
Abstract:
Keywords:
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