引信电子零部件长贮加速寿命试验方法探讨 |
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引用本文: | 赵河明.引信电子零部件长贮加速寿命试验方法探讨[J].探测与控制学报,1996(1). |
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作者姓名: | 赵河明 |
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作者单位: | 华北工业学院 |
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摘 要: | 通过对影响引信电子零部件长贮失效的主要环境因素(温度和湿度)分析,得出引信电子零部件长贮失效服从威布尔分布规律。单环境应力与双环境应力下分别满足阿伦尼斯和广义艾林模型,用恒定应力加速寿命试验方法,使温度和湿度相互作用加速效应等于零,推导出双环境应力下加速系数等于温度和湿度加速系数乘积。应用三组应力加速寿命试验的数据,计算出双环境应力下成布尔分布的形状参数、特征寿命、中位寿命等数值,从而估计出各种引信电于零部件长贮失效规律,对预测电子引信长贮可靠寿命,确定引信最佳贮存环境等具有一定参考价值。
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关 键 词: | 引信电子零部件长贮加速寿命试验,长贮环境条件,恒定应力加速寿命试验,加速因子,失效判据 |
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