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高能X射线双能成像系统中多能谱探测器研究
引用本文:李清华,王学武,李荐民,康克军,李元景,钟华强.高能X射线双能成像系统中多能谱探测器研究[J].核电子学与探测技术,2008,28(4).
作者姓名:李清华  王学武  李荐民  康克军  李元景  钟华强
作者单位:1. 清华大学工程物理系,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室(清华大学),北京,100084
2. 同方威视技术股份有限公司,北京,100084
摘    要:高能X射线双能成像系统能够对被检物的材料进行识别,但是当被检物的质量厚度较小时,对其材料识别变得很困难.本文提出了利用多能谱探测器的方法,来提高对较薄材料的识别能力,并使用蒙特卡罗方法进行了一系列模拟计算,首先计算了探测器晶体厚度变化时X射线的沉积规律,然后计算了不同探测器结构和参数情况下材料识别的效果.从模拟计算的结果可知,采用适当的多能谱探测器将使得系统对质量厚度较小的物质,尤其是高Z材料的识别效果有明显改善.

关 键 词:高能X射线  双能  物质识别  薄材料  多能谱探测器

Research on multi-spectrum detector in High-energy dual-energy X-ray imaging system
LI Qing-hua,WANG Xue-wu,LI Jian-min,KANG Ke-jun,LI Yuan-jing,ZHONG Hua-qiang.Research on multi-spectrum detector in High-energy dual-energy X-ray imaging system[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2008,28(4).
Authors:LI Qing-hua  WANG Xue-wu  LI Jian-min  KANG Ke-jun  LI Yuan-jing  ZHONG Hua-qiang
Abstract:
Keywords:
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