| 基于故障字典的数字芯片测试系统 |
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| 引用本文： | 胡湘娟,何怡刚,游望星,刘美容.基于故障字典的数字芯片测试系统[J].计算机测量与控制,2010,18(9). |
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| 作者姓名： | 胡湘娟 何怡刚 游望星 刘美容 |
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| 作者单位： | 1. 邵阳学院信息工程系,湖南,邵阳,422000;湖南大学电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082
2. 湖南大学电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，教育部高等学校博士学科点专项基金，湖南省自然科学基金，863计划，教育部新世纪优秀人才支持计划 |
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| 摘 要： | 介绍基于故障字典的数字芯片测试系统的设计与实现,包括数字芯片的测试原理说明、硬件电路组成和软件流程设计等;系统以数字信号处理器(DSP)为核心,采用高度的模块化设计,具有扩充方便、高速采样的特点;系统具备与PC机通信功能,通信模块硬件电路组成是利用DSP的多通道缓冲串行口(McBSP),通过MAX3111E同步转异步的方法来和PC机进行通信的;通过实际的测试应用,证明该软件硬件运行良好,能满足系统设计的要求,为数字芯片的自动测试和故障诊断提供了参考.
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| 关 键 词： | 故障字典 测试系统 数字芯片 数字信号处理器 |
Digital Chip Testing System Based on Fault Dictionary |
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| Hu Xiangjuan,He Yigang,You Wangxing,Liu Meirong.Digital Chip Testing System Based on Fault Dictionary[J].Computer Measurement & Control,2010,18(9). |
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| Authors: | Hu Xiangjuan He Yigang You Wangxing Liu Meirong |
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