| 空间单粒子锁定效应研究 |
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| 引用本文： | 薛玉雄,杨生胜,陈罗婧,曹洲,把得东,安恒,郭刚.空间单粒子锁定效应研究[J].核技术,2012(9):692-697. |
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| 作者姓名： | 薛玉雄 杨生胜 陈罗婧 曹洲 把得东 安恒 郭刚 |
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| 作者单位： | 兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理重点实验室;航天东方红卫星有限公司;中国原子能科学研究院核物理所 |
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| 基金项目： | 真空低温技术与物理重点实验室基金(9140C55020912OC5501)资助 |
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| 摘 要： | 空间辐射效应是影响器件空间性能的重要因素,特别是单粒子锁定现象一直是困扰CMOS器件在空间应用的一个难题。为此,文中分析了空间单粒子锁定效应机理、特点、模拟试验及检测方法,并选取典型空间用器件开展了单粒子锁定试验研究,在此基础上,结合试验数据分析给出了单粒子锁定防护方法、监测方法及建议,供相关技术人员参考。
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| 关 键 词： | CMOS器件 单粒子锁定 模拟试验 防护设计方法 |
Investigation of single event latchup |
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| XUE Yuxiong,YANG Shengsheng,Chen Luojing,CAO Zhou,BA Dedong,AN Heng,GUO Gang.Investigation of single event latchup[J].Nuclear Techniques,2012(9):692-697. |
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| Authors: | XUE Yuxiong YANG Shengsheng Chen Luojing CAO Zhou BA Dedong AN Heng GUO Gang |
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| Affiliation: | 1(Science and Technology on Vacuum & Cryogenics Technology and Physics Laboratory,Lanzhou Institute of Physics,Lanzhou 730000,China) 2(DFH Satellite Co.Ltd,Beijing 100094,China) 3(Institute of Nuclear Physics,China Institute of Atomic Energy,Beijing 102413,China) |
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