|
|||||
|
|
| 低成本VLSI时延测试策略的探讨 | |
| 引用本文： | 代建玮,夏宇闻,杨振.低成本VLSI时延测试策略的探讨[J].中国集成电路,2004(9):57-60. |
| 作者姓名： | 代建玮 夏宇闻 杨振 |
| 作者单位： | 1. 北京航空航天大学,电子信息工程学院 2. 湖南大学,应用物理系 |
| 摘 要： | 本文针对VLSI的时延测试进行了研究和讨论.介绍了几种实现时延测试的方法,并提出了一种低成本实现时延测试的策略.在实际应用中取得了良好效果. |
| 关 键 词： | 时延测试 VLSI 低成本 策略 实际 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
