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SU-8光刻胶氧刻蚀的研究
引用本文:段炼,朱军,陈迪,刘景全.SU-8光刻胶氧刻蚀的研究[J].压电与声光,2006,28(5):591-593.
作者姓名:段炼  朱军  陈迪  刘景全
作者单位:上海交通大学,微纳科学技术研究院,微米/纳米加工技术国家重点实验室,薄膜与微细技术教育部重点实验室,上海,200030
基金项目:国家重点实验室基金资助项目(51485030105JW0801)
摘    要:采用氧气反应离子刻蚀(RIE)SU-8光刻胶,以获得三维SU-8微结构(如斜面)。实验采用套刻、溅射、湿法腐蚀、电镀等技术实现光刻胶上镍掩膜图形化。分别研究氧气气压、射频(RF)功率、氧气流量对刻蚀速率的影响,并对实验结果进行了理论分析,在此基础上可进一步优化刻蚀工艺以获得更高的刻蚀速率。

关 键 词:SU-8光刻胶  反应离子刻蚀(RIE)  氧气
文章编号:1004-2474(2006)05-0591-03
收稿时间:2005-05-12
修稿时间:2005年5月12日

Study on Deep Reactive Ion Etching of SU-8 Photoresist
DUAN Lian,ZHU Jun,CHEN Di,LIU Jing-quan.Study on Deep Reactive Ion Etching of SU-8 Photoresist[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2006,28(5):591-593.
Authors:DUAN Lian  ZHU Jun  CHEN Di  LIU Jing-quan
Affiliation:National Key Lab. of Nano/Micro Fabrication Technology,Key Lab. for thin film and Microfabrication of Ministry of Education, Institute of Micro and Nano Science and Technology, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030,China
Abstract:
Keywords:SU-8 photoresist  reactive Ion etching(RIE)  O_2
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