| 集成电路功能测试的计算机辅助生成方法 |
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| 引用本文： | 曾成碧,陈光.集成电路功能测试的计算机辅助生成方法[J].微电子学,2000,30(1):40-49. |
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| 作者姓名： | 曾成碧 陈光 |
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| 作者单位： | 1. 四川大学,电气信息学院,四川,成都,610065
2. 电子科技大学,CAT室,四川,成都,610054 |
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| 摘 要： | 介绍了一种ＶＬＳＩ功能测试生成的结构分析法。它采用Ｐｅｔｒｉ网作为测试序列的模型工具，通过简化Ｐｅｔｒｉ网选择不确定度最小的测试序列，以降低测试序列的复杂度，缩短计算时间。
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| 关 键 词： | VLSI 计算机 功能测试 集成电路 |
Computer-Assisted Generation of Functional Testing of VLSI's |
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| ZENG Cheng-bi,CHEN Guang-ju.Computer-Assisted Generation of Functional Testing of VLSI''s[J].Microelectronics,2000,30(1):40-49. |
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| Authors: | ZENG Cheng-bi CHEN Guang-ju |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | VLSI Functional test Computer aided test Test actions |
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