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仪器测量与模式识别关系浅析
引用本文:薛浩然.仪器测量与模式识别关系浅析[J].机械工程与自动化,2004(1):72-74.
作者姓名:薛浩然
作者单位:山西省电子产品检验所,山西,太原,030024
摘    要:讨论了仪器测量与模式识别之间的关系。模式识别的第一步是仪器测量,并且很多测量的目的是分类。对属于同一个类的模式的可变性作了讨论,并简单描述了解决模式识别问题中常用的两种方式和有关的传感器。

关 键 词:仪器测量  模式识别  传感器  统计方法  语言符号法
文章编号:1672-6413(2004)01-0072-03
修稿时间:2003年10月11

Analysis of the Relation between Instrumentation Measurement and Pattern Recognition
XUE Hao-ran.Analysis of the Relation between Instrumentation Measurement and Pattern Recognition[J].Mechanical Engineering & Automation,2004(1):72-74.
Authors:XUE Hao-ran
Abstract:The paper discusses the relation between instrumentation measurement and pattern recognition.Instrumentation measurement is usually the first step of pattern recognition and it's purpose is classification.This paper also discusses the variability of the patterns belonging to the same class,describes the two pattern recognition methods often encounterd and pattern recognition related sensors.
Keywords:instrumentation  measurement  pattern recognition  analysis
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