| 基于非接触精密视觉测量的硬盘磁头头偏测量系统 |
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| 引用本文： | 王栋民,焦向杰,周勇.基于非接触精密视觉测量的硬盘磁头头偏测量系统[J].计算机测量与控制,2003,11(11):839-842. |
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| 作者姓名： | 王栋民 焦向杰 周勇 |
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| 作者单位： | 深圳开发科技股份有限公司自动化研究所,广东,深圳,518035 |
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| 摘 要： | 应用基于机器视觉的非接触测量技术对计算机硬盘磁头的头偏测量，不仅满足了磁头生产防污、防ESD的需要，而且实现了精密测量的需要；对测量数据的采集处理以及SPC实时监控，有效地实现了生产过程的控制和预报；与FIS系统的连接实现了生产数据的可追溯性，为生产管理现代化提供一个强有力的工具。系统已广泛应用于硬盘磁头生产线。
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| 关 键 词： | 计算机 硬盘磁头 磁头头偏测量系统 非接触精密视觉测量 机器视觉 数据采集系统 |
| 文章编号： | 1671-4598(2003)11-0839-04 |
| 修稿时间： | 2003年1月15日 |
HD-Head Measurement System Based on Non-touch Precision Vision Measurement |
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| WANG Dong-min,JIAO Xiang-jie,ZHOU Yong.HD-Head Measurement System Based on Non-touch Precision Vision Measurement[J].Computer Measurement & Control,2003,11(11):839-842. |
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| Authors: | WANG Dong-min JIAO Xiang-jie ZHOU Yong |
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| Abstract: | The measurement system based on non-touch vision not only meets the needs of pollute-proof and ESD-proof in HD manufacturing, but also meets the demand of precision measurement.Data collecting/processing and SPC on real-time can accomplish the control and forecast of manufacturing process.Connection with FIS can trace back to manufacturing data and provides a tool for the modernistic management. |
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| Keywords: | machine vision non-touch precision measurement image processing DB data collecting&processing SPC |
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