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多芯片微波组件内部水汽含量控制研究
引用本文:杨程,金家富,任榕.多芯片微波组件内部水汽含量控制研究[J].电子工艺技术,2019,40(1).
作者姓名:杨程  金家富  任榕
作者单位:中国电子科技集团公司 第三十八研究所,安徽 合肥,230088;中国电子科技集团公司 第三十八研究所,安徽 合肥,230088;中国电子科技集团公司 第三十八研究所,安徽 合肥,230088
摘    要:

关 键 词:水汽含量  多芯片微波组件  可靠性  高温烘烤
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