|
|||||
|
|
| 利用光学双稳态测量微弱物理量 | |
| 引用本文： | 杨齐民,熊秉衡,张文碧,王崇真,冯薇.利用光学双稳态测量微弱物理量[J].量子电子学报,1992(1). |
| 作者姓名： | 杨齐民 熊秉衡 张文碧 王崇真 冯薇 |
| 作者单位： | 云南工学院激光所，云南工学院激光所，云南工学院激光所，云南工学院激光所，云南工学院激光所 昆明，650041，昆明，650041，昆明，650041，昆明，650041，昆明，650041 |
| 摘 要： | 通常我们利用迈克尔逊干涉仪,来测量微弱物理量的变化。由下式可知 I_t=βI_i(1+αcosφ) (1)两个I_t的最大值之间的相位差为π。I_t最大值和邻近最小值之间的相位差为(1/2)π。如果用它测量位移,那么动镜移动(1/8)λ时,就对应(1/2)π的相位变化。在没有特殊装置的情况下,这也就是一般迈克尔逊干涉仪测量微弱物理量变化的灵敏度。这是因为迈氏干涉仪两臂之 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
