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SunScan冠层分析仪在测量大豆叶面积指数中的应用
引用本文:刘刚,谢云,高晓飞,段兴武. SunScan冠层分析仪在测量大豆叶面积指数中的应用[J]. 生态学杂志, 2008, 27(5): 862-866
作者姓名:刘刚  谢云  高晓飞  段兴武
作者单位:北京师范大学地理学与遥感科学学院,地表过程与资源生态国家重点实验室,北京,100875
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家自然科学基金
摘    要:SunScan冠层分析仪是一种利用间接测量法观测叶面积指数(LAI)的仪器,通过给定反映植被几何特征的椭球体叶倾角分布参数(ELADP),测量透射率获得LAI.于2005、2006年在黑龙江省嫩江县鹤山农场布设大豆试验地,通过比较LI-3100叶面积仪直接测量的LAI和SunSean冠层分析仪间接测量的LAI,得出ELADP率定结果,并验证了SunScan冠层分析仪测量LAI的精度.结果表明:用SunScan测量大豆冠层LAI时,ELADP取值为4.0;设定该参数后,SunSean测量的LAI与LI-3100测量结果一致,二者拟合的线性回归方程显著;随生长季叶面积的变化,SunScan测量误差略有变化;播种后50~85 d,Sun-Scan观测值偏低7.2%,播种96 d以后观测值偏高12.5%,播种后85~96 d与LI-3100观测值十分接近,误差只有2.0%;经过参数率定后的SunScan测量LAI效果较好.

关 键 词:SunScan冠层分析仪  椭球体叶倾角分布参数  叶面积指数  大豆  冠层分析仪  测量误差  大豆冠层  叶面积指数  应用  soybean  leaf area index  measuring  system  analysis  canopy  效果  参数率定  偏低  观测值  播种  变化  生长季  线性回归方程  拟合
文章编号:1000-4890(2008)05-0862-05
修稿时间:2007-06-12

Application of SunScan canopy analysis system in measuring leaf area index of soybean
LIU Gang,XIE Yun,GAO Xiao-fei,DUAN Xing-wu. Application of SunScan canopy analysis system in measuring leaf area index of soybean[J]. Chinese Journal of Ecology, 2008, 27(5): 862-866
Authors:LIU Gang  XIE Yun  GAO Xiao-fei  DUAN Xing-wu
Abstract:
Keywords:North China Plain  Winter wheat  Soil respiration rate  Q10 model  Straw manure  
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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