| 关于挂镀线行车相撞在程序上的改进 |
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| 引用本文： | 田国胜,顾德英.关于挂镀线行车相撞在程序上的改进[J].仪器仪表学报,2005,26(8):2419-2420. |
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| 作者姓名： | 田国胜 顾德英 |
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| 作者单位： | 辽宁工程技术大学,阜新,123000 |
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| 摘 要： | 上海新阳电子化学有限公司所生产的挂镀线用于TO220集成芯片的电镀.在该生产线试运行期间,时而出现行车相撞的情况,通过对程序的分析,行车相撞的产生是在行车行走过程中,由于传感器受到外部干扰,使得内部计数器在经过的槽位没有进行计数,这样就会造成行车多行走一个或几个槽位,行车相撞也就在所难免.在此在程序上加以改进以解决由于上述原因造成的行车相撞.
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| 关 键 词： | 挂镀线 行车 相撞 程序 |
The Improvement on Program for the Collision of Travel Cranes on Automatic-rack Line |
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| Tian Guosheng,Gu deying.The Improvement on Program for the Collision of Travel Cranes on Automatic-rack Line[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2005,26(8):2419-2420. |
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| Authors: | Tian Guosheng Gu deying |
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