| 变长重复播种测试码生成方法 |
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| 引用本文： | 张建胜,黄维康,唐璞山.变长重复播种测试码生成方法[J].复旦学报(自然科学版),2006,45(4):517-522. |
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| 作者姓名： | 张建胜 黄维康 唐璞山 |
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| 作者单位： | 复旦大学,专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,200433 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(90207002,60073032) |
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| 摘 要： | 提出了一种变长重复播种测试码生成方法.该方法使用重复播种技术,但是每个种子产生的伪随机测试码序列的长度不同.每个种子可以产生长度为全长L,3L/4,L/2,L/4,和单个种子1的伪随机测试码序列.该变长技术的一个优点是可以有效地截去大量冗余伪随机测试码,减少测试施加时间.ISCAS85和ISCAS89电路的实验表明,同定长序列重复播种测试码生成相比较,平均减少近36.22%的测试时间(最多57.49%),面积增加仅为4.41%.
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| 关 键 词： | 半导体技术 可测性设计 内建自测试 线性反馈移位寄存器 |
| 文章编号： | 0427-7104（2006）04-0517-06 |
| 收稿时间： | 2006-03-02 |
| 修稿时间： | 2006-03-02 |
Generation of Reseeding Test Pattern with Variable Length |
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| ZHANG Jian-sheng,HUANG Wei-kang,TANG Pu-shan.Generation of Reseeding Test Pattern with Variable Length[J].Journal of Fudan University(Natural Science),2006,45(4):517-522. |
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| Authors: | ZHANG Jian-sheng HUANG Wei-kang TANG Pu-shan |
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| Abstract: | A generation of reseeding test pattern with variable lengths of test sequences is proposed.It uses reseeding technology and the pseudo-random test sequences generated by seeds may have different lengths.Every seed can generate pseudo-random test sequences with variable length.The lengths generated are whole length L,L/2,3L/4,L/4 and 1.This technology with variable length can cut redundant test vectors effectively,and reduces the test application time.The experiments on ISCAS85 and ISCAS89 benchmark circuits demonstrate that the scheme can reduce 36.22% of test application time in average(up to 57.49% at most),while area penalty increases only 4.41% in average. |
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| Keywords: | semiconductor technology DFT BIST LFSR |
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