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| 非晶硅薄膜晶体管矩阵的计算机辅助测试(英文) | |
| 引用本文： | 符晖,徐重阳,邹雪城,张少强,袁奇燕,赵伯芳,周雪梅,王长安.非晶硅薄膜晶体管矩阵的计算机辅助测试(英文)[J].液晶与显示,1995(1). |
| 作者姓名： | 符晖 徐重阳 邹雪城 张少强 袁奇燕 赵伯芳 周雪梅 王长安 |
| 作者单位： | 华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系，华中理工大学团体电子学系 武汉，430074，武汉，430074，武汉，430074，武汉，430074，武汉，430074，武汉，430074，武汉，430074，武汉，430074 |
| 摘 要： | 本文提出了一种通过外接电容的耦和电压推算出晶体管特性的矩阵器件测试方法。利用本系统可以对晶体管进行逐个扫描,并推算出缺陷的类型和分布、矩阵板的均匀性及器件特性。同时文中引入了统计分析以确定标准值的范围。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
