| 急性弥漫性脑肿胀发病机制的实验研究 |
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| 引用本文： | 吴思荣,惠国桢,印其章.急性弥漫性脑肿胀发病机制的实验研究[J].中华创伤杂志,1998,14(4):206-208. |
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| 作者姓名： | 吴思荣 惠国桢 印其章 |
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| 作者单位： | 苏州医学院第一附属医院神经外科，苏州医学院神经生物研究室 |
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| 摘 要： | 目的探讨急性弥漫性脑肿胀的发病机制。方法电解毁损家兔下丘脑背内侧核、中脑网状结构和延髓网状结构，观察脑血流量和颅内压的变化。结果单独毁损引起短暂可逆性脑血流量增加和颅内压增高，联合毁损引起持续不可逆性颅内压增高，脑血流量超早期增加和早期减少，以及早期形成脑水肿。结论大脑血管紧张性调节中枢广泛存在于下丘脑、中脑和延髓，其结构或功能的破坏是急性弥漫性脑肿胀形成的根本基础
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| 关 键 词： | 脑肿胀 下丘脑 中脑 延髓 |
Experimental Study on Pathogenesis of Acute Diffuse Brain Swelling |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Brain swelling Hypothalamus Midbrain Medulla oblongata |
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